Translation of "Atomic force microscope" in German
																						The
																											surface
																											of
																											the
																											crystal
																											lattice
																											can
																											be
																											scanned
																											by
																											using
																											an
																											atomic
																											force
																											microscope.
																		
			
				
																						Mit
																											Hilfe
																											von
																											Rasterkraftmikroskopen
																											kann
																											die
																											Oberfläche
																											eines
																											derartigen
																											Kristalls
																											lediglich
																											abgetastet
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						Within
																											an
																											atomic
																											force
																											microscope
																											vibrations
																											of
																											nanowires
																											which
																											are
																											emitted
																											by
																											various
																											forces
																											can
																											be
																											measured.
																		
			
				
																						Innerhalb
																											eines
																											Rasterkraftmikroskops
																											können
																											Vibrationen
																											der
																											Nanodrähte
																											erfasst
																											werden,
																											die
																											durch
																											verschiedene
																											Kräfte
																											ausgelöst
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						Investigations
																											using
																											an
																											atomic
																											force
																											microscope
																											showed
																											that
																											the
																											cell
																											adhesion
																											can
																											be
																											turned
																											on
																											and
																											off
																											in
																											a
																											controlled
																											manner.
																		
			
				
																						Untersuchungen
																											mit
																											dem
																											Rasterkraftmikroskop
																											zeigten,
																											dass
																											die
																											Zellhaftung
																											kontrolliert
																											an-
																											und
																											ausgeschaltet
																											werden
																											kann.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											roughness
																											of
																											the
																											surfaces
																											can
																											be
																											determined
																											using
																											an
																											AFM
																											(atomic
																											force
																											microscope).
																		
			
				
																						Die
																											Rauheit
																											der
																											Oberflächen
																											kann
																											mit
																											einem
																											AFM
																											(Atomic
																											Force
																											Microscop)
																											bestimmt
																											werden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Atomic
																											force
																											microscope
																											(AFM):
																											measures
																											the
																											electrostatic
																											force
																											between
																											the
																											tip
																											and
																											the
																											specimen.
																		
			
				
																						Atomkraftmikroskop
																											(AFM):
																											misst
																											die
																											elektrostatische
																											Kraft
																											zwischen
																											der
																											Spitze
																											und
																											dem
																											ProbestÃ1?4ck.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											cells
																											are
																											compressed
																											between
																											two
																											parallel
																											surfaces
																											and
																											made
																											visible
																											using
																											an
																											atomic
																											force
																											microscope.
																		
			
				
																						Die
																											Zellen
																											werden
																											hierzu
																											zwischen
																											zwei
																											parallelen
																											Oberflächen
																											zusammengedrückt
																											und
																											unter
																											Verwendung
																											eines
																											Rasterkraftmikroskops
																											sichtbar
																											gemacht.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											atomic
																											force
																											microscope
																											(AFM)
																											is
																											a
																											powerful
																											tool
																											for
																											characterizing
																											polymer
																											surfaces
																											at
																											the
																											nanoscale.
																		
			
				
																						Das
																											Rasterkraftmikroskop
																											(AFM)
																											ist
																											ein
																											leistungsfähiges
																											System
																											zur
																											Charakterisierung
																											von
																											Polymeroberflächen
																											im
																											Nanometerbereich.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						There's
																											the
																											atomic-force
																											microscope
																											working
																											and
																											you
																											can
																											see
																											that
																											the
																											landing's
																											a
																											little
																											rough.
																		
			
				
																						Hier
																											ist
																											das
																											Rasterkraftmikroskop
																											an
																											der
																											Arbeit,
																											und
																											man
																											sieht,
																											dass
																											die
																											Landung
																											etwas
																											hart
																											ist.
															 
				
		 TED2020 v1
			
																						Inspection
																											with
																											the
																											atomic
																											force
																											microscope
																											shows
																											that
																											the
																											oxygen
																											bonds
																											distort
																											the
																											carbon
																											layer,
																											creating
																											a
																											pronounced
																											intrinsic
																											roughness
																											in
																											the
																											oxide
																											layers
																											which
																											persists
																											after
																											reduction.
																		
			
				
																						Aufnahmen
																											mit
																											dem
																											Atomkraftmikroskop
																											zeigen,
																											dass
																											die
																											Kohlenstofflagen
																											durch
																											Sauerstoffbindungen
																											verformt
																											werden,
																											sowie
																											eine
																											deutliche
																											Rauheit
																											der
																											Oxidlagen,
																											die
																											nach
																											der
																											Reduktion
																											bestehen
																											bleibt.
															 
				
		 WikiMatrix v1
			
																						Surface
																											roughness
																											can
																											be
																											measured,
																											for
																											example,
																											using
																											profile
																											methods
																											(DIN
																											EN
																											ISO
																											11562)
																											or
																											AFM
																											(atomic
																											force
																											microscope).
																		
			
				
																						Die
																											Prüfung
																											der
																											Oberflächenrauheit
																											kann
																											beispielsweise
																											mittels
																											Tastschnittverfahren
																											(DIN
																											EN
																											ISO
																											11562)
																											oder
																											AFM
																											(atomic
																											force
																											microscope)
																											durchgeführt
																											werden.
															 
				
		 WikiMatrix v1
			
																						The
																											device
																											according
																											to
																											the
																											invention
																											can
																											be
																											a
																											force
																											microscope
																											according
																											to
																											the
																											embodiment,
																											for
																											example,
																											an
																											“atomic
																											force”
																											microscope,
																											or
																											a
																											“van
																											der
																											Waals”
																											microscope,
																											or
																											else
																											a
																											raster
																											tunneling
																											microscope,
																											for
																											example,
																											an
																											electron
																											scanning
																											tunneling
																											microscope,
																											or
																											an
																											optical
																											raster
																											tunneling
																											microscope.
																		
			
				
																						Die
																											erfindungsgemäße
																											Vorrichtung
																											kann
																											je
																											nach
																											Ausführungsform
																											ein
																											Kraftmikroskop,
																											beispielsweise
																											ein
																											"Atomic
																											Force"-Mikroskop
																											oder
																											ein
																											"Van
																											der
																											Waals"-Mikroskop,
																											bzw.
																											ein
																											Rastertunnelmikroskop,
																											beispielsweise
																											ein
																											Elektronen-Rastertunnelmikroskop
																											oder
																											ein
																											optisches
																											Rastertunnelmikroskop,
																											sein.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											the
																											case
																											of
																											an
																											“atomic
																											force”
																											microscope,
																											the
																											sensor
																											5
																											includes
																											a
																											sensing
																											element
																											on
																											a
																											lever
																											arm,
																											which
																											is
																											set
																											in
																											vibration.
																		
			
				
																						Im
																											Falle
																											eines
																											"Atomic
																											Force"-Mikroskopes
																											umfaßt
																											der
																											Sensor
																											5
																											eine
																											Prüfspitze
																											an
																											einem
																											Hebelarm,
																											welcher
																											in
																											Schwingungen
																											versetzt
																											wird.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											surface
																											roughness
																											Ra
																											of
																											the
																											specimens
																											is
																											measured
																											using
																											an
																											atomic
																											force
																											microscope
																											(AFM)
																											in
																											a
																											square
																											measurement
																											region
																											with
																											a
																											side
																											length
																											of
																											50
																											?m.
																		
			
				
																						Bei
																											den
																											Proben
																											wird
																											die
																											Oberflächenrauhigkeit
																											Ra
																											mit
																											einem
																											Rasterkraftmikroskop
																											(AFM)
																											in
																											einem
																											quadratischen
																											Messbereich
																											von
																											50µm
																											Seitenlänge
																											gemessen.
															 
				
		 EuroPat v2