Translation of "Electron diffraction" in German
																						A
																											hexagonal
																											structure
																											was
																											identified
																											on
																											the
																											BN
																											crystallites
																											by
																											electron
																											diffraction.
																		
			
				
																						Mit
																											Elektronenbeugung
																											wurde
																											an
																											den
																											BN-Kristalliten
																											eine
																											hexagonale
																											Struktur
																											identifiziert.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Electron
																											diffraction
																											can
																											also
																											be
																											used
																											in
																											an
																											SEM
																											for
																											determining
																											the
																											material
																											structure.
																		
			
				
																						Auch
																											in
																											einem
																											Rasterelektronenmikroskop
																											kann
																											Elektronenbeugung
																											zur
																											Strukturbestimmung
																											verwendet
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											prize
																											is
																											named
																											after
																											Clinton
																											Davisson
																											and
																											Lester
																											Germer,
																											who
																											first
																											measured
																											electron
																											diffraction,
																											and
																											as
																											of
																											2007
																											it
																											is
																											valued
																											at
																											$5,000.
																		
			
				
																						Er
																											ist
																											nach
																											Clinton
																											Davisson
																											und
																											Lester
																											Germer,
																											den
																											Entdeckern
																											der
																											Elektronenbeugung,
																											benannt.
															 
				
		 Wikipedia v1.0
			
																						The
																											electron-microscopic
																											diffraction
																											pattern
																											in
																											the
																											/010/axis
																											allows
																											a
																											distinction
																											to
																											be
																											made
																											between
																											A-centered
																											and
																											F-centered
																											orthorhombic
																											lattice.
																		
			
				
																						Das
																											elektronenmikrokopische
																											Beugungsmuster
																											in
																											der
																											/010/-Achse
																											läßt
																											zwischen
																											A-zentriertem
																											und
																											F-zentriertem
																											orthorhombischen
																											Gitter
																											unterscheiden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Both
																											samples
																											A
																											and
																											B
																											exhibited
																											very
																											good
																											EBSD
																											(electron
																											back
																											scattering
																											diffraction)
																											results.
																		
			
				
																						Die
																											beiden
																											Proben
																											A
																											und
																											B
																											zeigten
																											sehr
																											gute
																											EBSD
																											(Electron
																											Back
																											Scattering
																											Diffraction)-Ergebnisse.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Thereafter,
																											the
																											distances
																											between
																											the
																											individual
																											graphene
																											layers
																											were
																											analyzed
																											by
																											way
																											of
																											transmission
																											electron
																											diffraction
																											(TED).
																		
			
				
																						Anschließend
																											wurde
																											der
																											Abstand
																											zwischen
																											den
																											einzelnen
																											Graphenlagen
																											mit
																											TED
																											(Transmission
																											Electron
																											Diffraction)
																											analysiert.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Imaging
																											of
																											the
																											back
																											focal
																											plane
																											of
																											the
																											objective
																											lens
																											into
																											the
																											object
																											plane
																											of
																											the
																											projector
																											lens
																											(using
																											an
																											intermediate
																											lens)
																											produces
																											a
																											diffraction
																											pattern
																											(low-energy
																											electron
																											diffraction,
																											LEED)
																											at
																											the
																											imaging
																											plane
																											and
																											recorded
																											in
																											a
																											number
																											of
																											different
																											ways.
																		
			
				
																						Die
																											Projektion
																											der
																											Fokalebene
																											der
																											Objektivlinse
																											durch
																											eine
																											Zwischenlinse
																											in
																											die
																											Objektebene
																											der
																											Projektorlinse
																											ergibt
																											ein
																											Beugungsmuster
																											(LEED
																											–
																											Low
																											Energy
																											Electron
																											Diffraction)
																											in
																											der
																											Bildebene,
																											das
																											auf
																											verschiedene
																											Weisen
																											aufgenommen
																											werden
																											kann.
															 
				
		 Wikipedia v1.0
			
																						The
																											crystal
																											structure
																											of
																											a
																											fibre
																											—
																											the
																											second
																											identification
																											charactertistic
																											of
																											a
																											fibre
																											-
																											can
																											be
																											determined
																											with
																											the
																											help
																											of
																											Selected
																											Area
																											Electron
																											Diffraction
																											(SAED).
																		
			
				
																						Die
																											Kristallstruktur
																											einer
																											Faser
																											-
																											das
																											zweite
																											Identifizierungsmerkmal
																											einer
																											Faser
																											-
																											kann
																											mit
																											Hilfe
																											der
																											"Selected
																											Area
																											Electron
																											Diffraction"
																											(SAED)
																											bestimmt
																											werden.
															 
				
		 EUbookshop v2
			
																						Systems
																											of
																											this
																											kind
																											serve,
																											for
																											example,
																											for
																											studying
																											crystal
																											surfaces
																											by
																											the
																											so-called
																											LEED
																											(low
																											energy
																											electron
																											diffraction)
																											technique.
																		
			
				
																						Einrichtungen
																											dieser
																											Art
																											dienen
																											z.
																											B.
																											der
																											Untersuchung
																											von
																											Kristalloberflächen
																											nach
																											der
																											sogenannten
																											LEED-Technik
																											(Low
																											Energy
																											Electron
																											Diffraction).
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						It
																											is
																											characteristic
																											of
																											the
																											X-ray
																											amorphous
																											drying
																											products
																											as
																											defined
																											in
																											accordance
																											with
																											the
																											invention
																											that
																											microcrystalline
																											components
																											can
																											be
																											detected
																											by
																											electron
																											diffraction.
																		
			
				
																						Charakteristisch
																											für
																											die
																											röntgenamorphen
																											Trockenprodukte
																											im
																											Sinne
																											der
																											erfindungsgemäßen
																											Definition
																											ist,
																											daß
																											mit
																											Hilfe
																											der
																											Elektronenbeugung
																											in
																											der
																											Regel
																											mikrokristalline
																											Anteile
																											festgestellt
																											werden
																											können.
															 
				
		 EuroPat v2