Translation of "Minority carrier" in German

The average minority carrier recombination lifetime of the wafer was determined by ELYMAT measurement to be about 515 microseconds.
Die durchschnittliche Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauer des Wafers wurde durch ELYMAT-Messung mit etwa 515 Mikrosekunden bestimmt.
EuroPat v2

One process for measuring minority carrier recombination lifetime is the surface photovoltage (SPV) technique described in Zoth and Bergholz, J. Appl.
Ein Verfahren für die Messung der Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauer ist das von Zoth und Bergholz, J. Appl.
EuroPat v2

The calculated diffusion length values are readily converted to minority carrier recombination lifetime values using the formulas above.
Die berechneten Diffusionslängenwerte können mit Hilfe der obigen Formeln leicht in Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauerwerte umgewandelt werden.
EuroPat v2

The proposal refers to the arguments put forward by the minority of opponents to carrier pre-selection and then lists the main reasons why it does not find the minority case against carrier pre-selection to be convincing.
Die Kommission geht auf die Argumente der Gegner der Betreibervorauswahl ein, die in der Minderheit waren, und führt anschließend die wichtigsten Gründe auf, weshalb sie sich den Argumenten dieser Minderheit nicht anschließen kann.
TildeMODEL v2018

Any minority carrier generated below the point of highest concentration in the subcollector 17 will be forced in the direction of arrow 27 by the lower drift field across junction 19.
Alle Minoritätsladungsträger, die unterhalb der Stelle der höchsten Konzentration im Subkollector 17 gebildet werden, werden in Richtung des Pfeiles 27 durch das untere Driftfeld über den Übergang 19 getrieben.
EuroPat v2

By extending the subcollector deep into the substrate, the prior art caused the P-N junction 19 to be created so deeply in the body that little or no radiation would penetrate to it and few minority carrier would diffuse down to it.
Bei den bekannten Anordnungen wird der Subkollektor so tief in das Substrat vergraben, so daß der entstandene PN-Übergang 19 so tief liegt, daß wenig oder keine Strahlung bis zu ihm vordringt und wenig Minoritätsladungsträger zu ihm hinunterdiffundieren.
EuroPat v2

The process of claim 5 wherein the storage temperature is between about 300° C. and about 380° C. A process for increasing the minority carrier recombination lifetime of a silicon wafer contaminated with iron comprising storing the wafer at a storage temperature and for a period sufficient to cause iron from regions of the wafer bulk at distances from the wafer surface greater than 10% of the wafer thickness to diffuse to the surface, and removing diffused iron from the surface of the wafer, the storage temperature being insufficient to produce oxygen-related defects in the silicon but at least about 200° C.
Ein Verfahren zur Erhöhung der Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebendauer in einem mit Eisen verunreinigten Silicium-Wafer, dadurch gekennzeichnet, daß der Siliciumkörper bei einer ausreichenden Lagertemperatur und für eine ausreichende Lagerungsdauer gelagert wird, um eine Diffusion des Eisens aus Bereichen des Wafer-Inneren bei Abständen von der Waferoberfläche von mehr als 10 % der Waferdicke, an die Oberfläche des Wafers zu bewirken, und das diffundierte Eisen von der Oberfläche des Wafers entfernt wird, wobei die Lagertemperatur nicht ausreichend ist, um sauerstoffbedingte Störstellen im Silicium zu erzeugen, jedoch mindestens 200 ° C beträgt.
EuroPat v2

The silicon body is stored at a temperature and for a period sufficient to cause a sufficient amount of iron to diffuse from the bulk of the silicon body to the surface of the silicon body to measurably increase the minority carrier recombination lifetime of the silicon body.
Der Siliciumkörper wird bei einer ausreichenden Temperatur und für eine ausreichende Dauer gelagert, um die Diffusion einer ausreichenden Menge Eisen aus dem Innern des Siliciumkörpers an die Oberfläche des Siliciumkörpers zu bewirken und die Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauer des Siliciumkörpers meßbar zu erhöhen.
EuroPat v2

On the vertical axis are the wafers' minority carrier recombination lifetimes in microseconds; on the horizontal axis are the storage periods in hours.
Auf der vertikalen Achse werden die Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauerwerte der Wafer in Mikrosekunden und auf der horizontalen Achse die Lagerzeiten in Stunden angegeben.
EuroPat v2

It has been discovered that the minority carrier recombination lifetime of silicon wafers can be increased by decreasing the average concentration of iron using the process of the present invention.
Es wurde entdeckt, daß die Minoritätsladungsträger-Rekombinationslebensdauer von Silicium-Wafern durch die Verringerung der durchschnittlichen Eisenkonzentration mittels Anwendung des Verfahrens der vorliegenden Erfindung erhöht werden kann.
EuroPat v2