Translation of "Hohlraumfrei" in English
																						Das
																											Vlies
																											wird
																											satt
																											im
																											Harz
																											eingebettet
																											und
																											dabei
																											falten-
																											und
																											hohlraumfrei
																											angedrückt.
																		
			
				
																						The
																											fleece
																											is
																											embedded
																											and
																											saturated
																											in
																											the
																											resin
																											and
																											pressed
																											down
																											to
																											remove
																											all
																											creases
																											and
																											voids.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						Bevorzugt
																											ist
																											der
																											Bereich
																											zwischen
																											Sensorelement
																											(3)
																											und
																											Trägerelement
																											(5)
																											hohlraumfrei.
																		
			
				
																						The
																											area
																											between
																											the
																											sensor
																											element
																											(3)
																											and
																											the
																											carrier
																											element
																											(5)
																											is
																											preferably
																											cavity-free.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Bevorzugt
																											ist
																											der
																											Bereich
																											zwischen
																											Sensorelement
																											(3)
																											und
																											Protektorelement
																											(4)
																											hohlraumfrei.
																		
			
				
																						The
																											area
																											between
																											the
																											sensor
																											element
																											(3)
																											and
																											the
																											protector
																											element
																											(4)
																											is
																											preferably
																											cavity-free.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Salz
																											greift
																											die
																											meisten
																											Baustoffe
																											an,
																											alle
																											Bauelemente
																											sind
																											daher
																											vollständig
																											offen
																											und
																											hohlraumfrei
																											ausgeführt.
																		
			
				
																						Salt
																											is
																											corrosive
																											for
																											most
																											building
																											materials,
																											so
																											all
																											components
																											are
																											completely
																											open
																											to
																											the
																											air
																											and
																											cavity-free.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						Falls
																											weitere
																											Leitungselemente
																											eingebracht
																											werden,
																											müßten
																											diese
																											entweder
																											hohlraumfrei
																											sein
																											oder
																											ebenfalls
																											mit
																											einer
																											entsprechenden
																											Füllmasse
																											versehen
																											werden.
																		
			
				
																						If
																											additional
																											line
																											elements
																											are
																											introduced,
																											they
																											must
																											either
																											be
																											free
																											of
																											cavities
																											or
																											must
																											also
																											be
																											provided
																											with
																											a
																											corresponding
																											filling
																											compound.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Der
																											Prothesenkörper
																											1
																											setzt
																											sich
																											aus
																											einer
																											weich-elastischen
																											Silikonkautschukmasse
																											7
																											und
																											einem
																											Beutel
																											aus
																											zwei
																											längs
																											des
																											Prothesenrandes
																											4
																											dicht
																											miteinander
																											verschweißten,
																											elastisch
																											dehnbaren
																											Kunststoffolien
																											8,
																											9
																											zusammen,
																											wobei
																											die
																											Silikonkautschukmasse
																											7
																											in
																											den
																											Beutel
																											hohlraumfrei
																											eingeschlossen
																											ist.
																		
			
				
																						The
																											prosthesis
																											body
																											1
																											is
																											composed
																											of
																											a
																											soft
																											elastic
																											silicone
																											rubber
																											compound
																											7
																											and
																											a
																											bag
																											consisting
																											of
																											two
																											elastically
																											expandable
																											plastic
																											films
																											8,
																											9
																											welded
																											tightly
																											together
																											along
																											the
																											prosthesis
																											edge
																											4,
																											with
																											the
																											silicone
																											rubber
																											compound
																											7
																											enclosed
																											in
																											the
																											bag
																											without
																											any
																											voids.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Danach
																											wird
																											der
																											Behälter
																											mit
																											Übertragungsflüssigkeit
																											geflutet
																											und
																											die
																											Übertragungsflüssigkeit
																											dringt
																											hohlraumfrei
																											in
																											die
																											Räume
																											21
																											und
																											22
																											sowie
																											den
																											Kanal
																											15
																											des
																											Sensorelements
																											1
																											ein
																											und
																											füllt
																											diese
																											aus.
																		
			
				
																						Then,
																											the
																											container
																											is
																											flooded
																											with
																											transfer
																											fluid
																											and
																											the
																											transfer
																											fluid
																											penetrates
																											void-free
																											into
																											the
																											spaces
																											21
																											and
																											22
																											as
																											well
																											as
																											the
																											channel
																											15
																											of
																											the
																											sensor
																											element
																											1
																											and
																											completely
																											fills
																											them.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Nach
																											dem
																											Aufbringen
																											des
																											dotierten
																											Silikat-Glases
																											wird
																											dann
																											ein
																											Hochtemperaturschritt
																											ausgeführt,
																											so
																											dass
																											das
																											dotierte
																											Silikat-Glas
																											aufgeschmolzen
																											wird
																											und
																											so
																											die
																											Gräben
																											2
																											im
																											Wesentlichen
																											hohlraumfrei
																											eingeebnet
																											werden.
																		
			
				
																						After
																											the
																											application
																											of
																											the
																											doped
																											silicate
																											glass,
																											a
																											high-temperature
																											step
																											is
																											then
																											carried
																											out,
																											so
																											that
																											the
																											doped
																											silicate
																											glass
																											is
																											melted
																											and
																											the
																											trenches
																											2
																											are
																											thus
																											leveled
																											essentially
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Bei
																											einer
																											Temperaturbehandlung
																											von
																											BPSG
																											mit
																											einem
																											Bor-
																											und
																											Phosphorgehalt
																											von
																											jeweils
																											ca.
																											4
																											%
																											bei
																											800
																											bis
																											850°C
																											über
																											20
																											bis
																											30
																											min
																											lassen
																											sich
																											Vertiefungen
																											bis
																											zu
																											einer
																											Breite
																											von
																											0,15
																											µm
																											und
																											einem
																											Tiefen-Breiten-Verhältnis
																											von
																											5:1
																											hohlraumfrei
																											ausfüllen.
																		
			
				
																						In
																											the
																											case
																											of
																											a
																											temperature
																											treatment
																											of
																											BPSG
																											with
																											a
																											boron
																											and
																											phosphorus
																											content
																											of
																											respectively
																											approximately
																											4%
																											at
																											800
																											to
																											850°
																											C.
																											for
																											20
																											to
																											30
																											min,
																											depressions
																											having
																											a
																											width
																											of
																											up
																											to
																											0.15
																											?m
																											and
																											a
																											depth/width
																											ratio
																											of
																											5:1
																											can
																											be
																											filled
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Durch
																											die
																											Siliziumnitrid-Schicht
																											wird
																											jedoch
																											das
																											Tiefen-Breiten-Verhältnis
																											der
																											Vertiefungen
																											auf
																											der
																											Halbleiteroberfläche,
																											die
																											mit
																											dem
																											dotierten
																											Silikat-Glas
																											hohlraumfrei
																											ausgefüllt
																											werden
																											sollen,
																											vergrößert.
																		
			
				
																						However,
																											the
																											silicon
																											nitride
																											layer
																											increases
																											the
																											depth/width
																											ratio
																											of
																											the
																											depressions
																											on
																											the
																											semiconductor
																											surface,
																											which
																											are
																											intended
																											to
																											be
																											filled
																											with
																											the
																											doped
																											silicate
																											glass
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Dies
																											führt
																											dazu,
																											dass
																											bei
																											einer
																											weiteren
																											Miniaturisierung
																											der
																											Halbleiterstrukturen
																											mit
																											Breiten
																											unter
																											0,15
																											µ
																											m
																											das
																											Tiefen-Breiten-Verhältnis
																											weit
																											über
																											dem
																											Grenzwert
																											von
																											5:1
																											liegt,
																											bei
																											dem
																											sich
																											mit
																											der
																											bekannten
																											Reflow-Technik
																											von
																											dotierten
																											Silikat-Gläsern
																											hohlraumfrei
																											die
																											Vertiefungen
																											der
																											Halbleiterstrukturen
																											ausfüllen
																											lassen.
																		
			
				
																						The
																											result
																											of
																											this
																											is
																											that
																											in
																											the
																											event
																											of
																											further
																											miniaturization
																											of
																											the
																											semiconductor
																											structures
																											with
																											widths
																											of
																											less
																											than
																											0.15
																											?m,
																											the
																											depth/width
																											ratio
																											will
																											be
																											far
																											in
																											excess
																											of
																											the
																											limit
																											value
																											of
																											5:1
																											at
																											which
																											the
																											depressions
																											of
																											the
																											semiconductor
																											structures
																											can
																											be
																											filled
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities
																											using
																											the
																											known
																											reflow
																											technique
																											of
																											doped
																											silicate
																											glasses.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Aufgabe
																											der
																											vorliegenden
																											Erfindung
																											ist
																											es
																											deshalb,
																											ein
																											verbessertes
																											Auffüllen
																											von
																											Vertiefungen
																											in
																											der
																											Oberfläche
																											einer
																											Halbleiterstruktur,
																											insbesondere
																											unterhalb
																											der
																											ersten
																											Metallebene,
																											zu
																											ermöglichen,
																											mit
																											dem
																											sich
																											auch
																											bei
																											Strukturbreiten
																											von
																											unter
																											0,15
																											µ
																											m
																											und
																											großen
																											Tiefen-Breiten-Verhältnissen
																											die
																											Vertiefungen
																											hohlraumfrei
																											ausfüllen
																											lassen.
																		
			
				
																						In
																											particular,
																											it
																											is
																											an
																											object
																											of
																											the
																											invention
																											to
																											enable
																											improved
																											filling
																											of
																											depressions
																											in
																											the
																											surface
																											of
																											a
																											semiconductor
																											structure,
																											in
																											particular
																											below
																											the
																											first
																											metal
																											plane,
																											which
																											makes
																											it
																											possible
																											for
																											the
																											depressions
																											to
																											be
																											filled
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities
																											even
																											with
																											structure
																											widths
																											of
																											less
																											than
																											0.15
																											?m
																											and
																											large
																											depth/width
																											ratios.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Wie
																											mit
																											Bezugszeichen
																											18
																											angedeutet
																											ist,
																											sind
																											die
																											beiden
																											vorgenannten
																											Räume
																											21
																											und
																											22
																											sowie
																											der
																											Kanal
																											15
																											mit
																											der
																											Übertragungsflüssigkeit
																											hohlraumfrei
																											gefüllt.
																		
			
				
																						As
																											indicated
																											by
																											reference
																											character
																											18,
																											the
																											two
																											aforementioned
																											spaces
																											21
																											and
																											22
																											as
																											well
																											as
																											the
																											channel
																											15
																											are
																											filled
																											void-free
																											with
																											the
																											transfer
																											fluid.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Nachdem
																											das
																											Einführungsrohr
																											3
																											mit
																											der
																											darauf
																											befindlichen,
																											auseinandergezogenen
																											Feder
																											4
																											und
																											dem
																											in
																											den
																											Windungszwischenräumen
																											der
																											Feder
																											befindlichen
																											Füllmörtel
																											6
																											in
																											der
																											in
																											Fig.
																											1
																											dargestellten
																											Weise
																											in
																											die
																											Mauerdurchführungsöffnung
																											2
																											eingesetzt
																											worden
																											ist,
																											werden
																											die
																											Verstiftungen
																											5
																											gelöst,
																											so
																											daß
																											sich
																											die
																											Feder
																											4
																											zusammenziehen
																											kann
																											und
																											die
																											sich
																											unter
																											der
																											Federkraft
																											aufeinanderzu
																											bewegenden
																											Federwindungen
																											den
																											dazwischen
																											befindlichen
																											Füllmörtel
																											in
																											dem
																											Ringspalt
																											zwischen
																											der
																											Wandung
																											der
																											Mauerdurchführungsöffnung
																											2
																											und
																											der
																											Rohraußenwandung
																											fest
																											verpressen,
																											so
																											daß
																											der
																											Füllmörtel
																											6
																											diesen
																											Ringspalt
																											satt
																											und
																											hohlraumfrei
																											ausfüllt.
																		
			
				
																						After
																											the
																											lead-in
																											tube
																											3
																											with
																											the
																											stretched
																											spring
																											5
																											disposed
																											thereon
																											and
																											with
																											the
																											lean
																											mortar
																											6
																											in
																											the
																											air
																											gaps
																											between
																											the
																											turns
																											of
																											the
																											spring
																											is
																											inserted
																											into
																											the
																											opening
																											2
																											of
																											the
																											lead-in
																											wall
																											bushing
																											in
																											the
																											manner
																											shown
																											in
																											FIG.
																											1,
																											the
																											pinned
																											joints
																											5
																											are
																											removed,
																											so
																											that
																											the
																											spring
																											4
																											can
																											contract
																											and
																											its
																											turns,
																											which
																											move
																											closer
																											to
																											each
																											other
																											under
																											the
																											thrust
																											of
																											the
																											spring,
																											firmly
																											grout
																											the
																											lean
																											mortar
																											located
																											between
																											the
																											turns
																											into
																											the
																											annular
																											gap
																											between
																											the
																											wall
																											with
																											the
																											opening
																											2
																											of
																											the
																											lead-in
																											wall
																											bushing
																											and
																											the
																											outer
																											tube
																											wall.
																											Thus,
																											the
																											lean
																											mortar
																											6
																											fills
																											this
																											annular
																											gap
																											tightly
																											without
																											leaving
																											any
																											spaces.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Gemäß
																											dem
																											Ausführungsbeispiel
																											ist
																											die
																											Sensorkammer
																											8
																											als
																											massiver
																											Körper
																											ausgebildet,
																											in
																											dem
																											hohlraumfrei
																											die
																											Leiterplatine
																											10
																											und
																											der
																											Sensor
																											11
																											aufgenommen
																											sind.
																		
			
				
																						According
																											to
																											the
																											embodiment
																											example,
																											the
																											sensor
																											chamber
																											8
																											is
																											designed
																											as
																											a
																											solid
																											body,
																											in
																											which
																											the
																											circuit
																											board
																											10
																											and
																											the
																											sensor
																											11
																											are
																											accommodated,
																											without
																											any
																											hollow
																											spaces.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Falls
																											z.B.
																											durch
																											Elektronenmikroskopie
																											oder
																											eine
																											sonstige
																											Werkstoffprüfung
																											festgestellt
																											wird,
																											dass
																											die
																											Metallmatrix
																											nach
																											Einwirkung
																											der
																											Wärmequelle
																											und
																											Abkühlen
																											nicht
																											vollständig
																											hohlraumfrei
																											ist
																											oder
																											nicht
																											ausreichend
																											an
																											der
																											Oberfläche
																											des
																											hochwärmeleitfähigen
																											Materials
																											haftet,
																											wird
																											eine
																											anschließende
																											Wärmebehandlung
																											bei
																											Atmosphärendruck
																											oder
																											unter
																											Vakuum
																											oder
																											ein
																											wie
																											oben
																											beschriebenes
																											heißisostatisches
																											Pressen
																											durchgeführt.
																		
			
				
																						If
																											it
																											is
																											found,
																											for
																											example,
																											by
																											electron
																											microscopy
																											or
																											by
																											some
																											other
																											materials
																											test
																											that
																											the
																											metal
																											matrix
																											is
																											not
																											completely
																											free
																											of
																											cavities
																											after
																											exposure
																											to
																											the
																											heat
																											source
																											and
																											then
																											cooling,
																											or
																											if
																											it
																											does
																											not
																											adhere
																											adequately
																											to
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											highly
																											heat-conducting
																											material,
																											then
																											a
																											subsequent
																											heat
																											treatment
																											is
																											performed
																											at
																											atmospheric
																											pressure
																											or
																											in
																											vacuo
																											or
																											hot
																											isostatic
																											pressing
																											as
																											described
																											above
																											is
																											performed.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Vor
																											der
																											querschnittsreduzierenden
																											Umformung
																											des
																											noch
																											nicht
																											verformten
																											Halbzeugdrahts
																											("Vor-Halbzeugdraht")
																											kann
																											so
																											das
																											Innere
																											des
																											Außenmantels
																											mittels
																											der
																											Vor-Füllelemente
																											und
																											der
																											Vor-PIT-Elemente
																											praktisch
																											hohlraumfrei
																											befüllt
																											werden.
																		
			
				
																						Prior
																											to
																											cross-section-reducing
																											shaping
																											of
																											the
																											not
																											yet
																											deformed
																											semifinished
																											wire
																											(“pre-semifinished
																											wire”),
																											the
																											inside
																											of
																											the
																											outer
																											jacket
																											can
																											then
																											be
																											filled
																											practically
																											free
																											of
																											voids
																											by
																											means
																											of
																											the
																											pre-filler
																											elements
																											and
																											the
																											pre-PIT
																											elements.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Selbst
																											wenn
																											konventionelle
																											Feststoffisolationen
																											hohlraumfrei
																											und
																											TE-akzeptabel
																											gefertigt
																											werden
																											könnten,
																											können
																											im
																											späterem
																											Betrieb
																											Ablösungen
																											von
																											den
																											starren
																											Leitern
																											stattfinden,
																											was
																											zur
																											Folge
																											hat,
																											dass
																											steigende
																											TE-Intensitäten
																											früher
																											oder
																											später
																											zu
																											elektrische
																											Durchschlägen
																											führen.
																		
			
				
																						Even
																											if
																											conventional
																											solid
																											matter
																											insulations
																											are
																											void
																											of
																											hollow
																											spaces,
																											and
																											can
																											be
																											produced
																											so
																											as
																											to
																											be
																											acceptable
																											with
																											respect
																											to
																											the
																											partial
																											discharge,
																											delamination
																											from
																											the
																											rigid
																											conductors
																											may
																											occur
																											during
																											later
																											operation,
																											thus
																											resulting
																											in
																											increasing
																											PI)
																											intensities,
																											or
																											later
																											in
																											electrical
																											disruptive
																											discharges.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Um
																											auch
																											bei
																											Halbleiterstrukturen
																											mit
																											Breiten
																											von
																											unter
																											0,15
																											µ
																											m,
																											wie
																											sie
																											sich
																											aufgrund
																											der
																											fortschreitenden
																											Miniaturisierung
																											der
																											integrierten
																											Schaltungen
																											ergeben,
																											Gräben
																											hohlraumfrei
																											ausfüllen
																											zu
																											können
																											wird
																											gemäß
																											der
																											Erfindung
																											die
																											Siliziumnitrid-Diffusionsbarriereschicht
																											so
																											auf
																											der
																											Halbleiterstruktur
																											abgeschieden,
																											dass
																											die
																											Abscheiderate
																											auf
																											waagerechten
																											Oberflächen
																											wesentlich
																											größer
																											ist,
																											als
																											die
																											auf
																											senkrechten
																											Oberflächen.
																		
			
				
																						Semiconductor
																											structures
																											having
																											widths
																											of
																											less
																											than
																											0.15
																											?m
																											are
																											emerging
																											on
																											account
																											of
																											the
																											progressive
																											miniaturization
																											of
																											integrated
																											circuits.
																											In
																											order
																											to
																											be
																											able
																											to
																											fill
																											trenches
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities
																											even
																											in
																											the
																											case
																											of
																											these
																											semiconductor
																											structures
																											having
																											smaller
																											widths,
																											the
																											present
																											method
																											enables
																											the
																											silicon
																											nitride
																											diffusion
																											barrier
																											layer
																											to
																											be
																											deposited
																											on
																											the
																											semiconductor
																											structure
																											in
																											such
																											a
																											way
																											that
																											the
																											deposition
																											rate
																											on
																											horizontal
																											surfaces
																											is
																											significantly
																											higher
																											than
																											that
																											on
																											vertical
																											surfaces.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Auf
																											der
																											Siliziumnitridschicht
																											4
																											mit
																											reduzierter
																											Seitenwandstärke
																											in
																											den
																											Gräben
																											2
																											lassen
																											sich
																											dann
																											auch
																											mit
																											der
																											herkömmlichen
																											Reflow-Technik
																											dotierte
																											Silikat-Gläser
																											aufbringen,
																											die
																											die
																											Gräben
																											2
																											hohlraumfrei
																											ausfüllen,
																											wie
																											in
																											Figur
																											3
																											gezeigt
																											ist.
																		
			
				
																						On
																											the
																											silicon
																											nitride
																											layer
																											4
																											having
																											reduced
																											side
																											wall
																											thickness
																											in
																											the
																											trenches
																											2,
																											it
																											is
																											then
																											also
																											possible
																											to
																											apply
																											silicate
																											glasses
																											which
																											are
																											doped
																											using
																											the
																											conventional
																											reflow
																											technique
																											and
																											which
																											fill
																											the
																											trenches
																											2
																											in
																											a
																											manner
																											free
																											from
																											cavities,
																											as
																											is
																											shown
																											in
																											FIG.
																											3
																											.
															 
				
		 EuroPat v2