Übersetzung für "In circuit test" in Deutsch
																						An
																											in-circuit
																											test
																											(ICT)
																											is
																											used
																											here.
																		
			
				
																						Hierbei
																											kommt
																											ein
																											In-Circuit-Test
																											(ICT)
																											zum
																											Einsatz.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Then,
																											in
																											the
																											test
																											circuit,
																											the
																											contact
																											positions
																											to
																											be
																											tested
																											have
																											to
																											form
																											a
																											series
																											connection.
																		
			
				
																						Dann
																											müssen
																											im
																											Überprüfungsstromkreis
																											die
																											zu
																											überprüfenden
																											Kontaktierungsstellen
																											eine
																											Reihenschaltung
																											bilden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						One
																											highlight
																											of
																											this
																											integration
																											is
																											the
																											software-related
																											activation
																											of
																											the
																											Digitaltest
																											In-Circuit
																											tester’s
																											test
																											channels.
																		
			
				
																						Ein
																											Highlight
																											dieser
																											Integration
																											ist
																											die
																											softwareseitige
																											Ansteuerung
																											der
																											Testkanäle
																											des
																											Digitaltest
																											In-Circuit-Tester.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						One
																											highlight
																											of
																											this
																											integration
																											is
																											the
																											software-related
																											activation
																											of
																											the
																											TERADYNE
																											In-Circuit
																											tester’s
																											test
																											channels.
																		
			
				
																						Ein
																											Highlight
																											dieser
																											Integration
																											ist
																											die
																											softwareseitige
																											Ansteuerung
																											der
																											Testkanäle
																											des
																											TERADYNE
																											In-Circuit-Tester.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						One
																											highlight
																											of
																											this
																											integration
																											is
																											the
																											software-related
																											activation
																											of
																											the
																											SPEA
																											In-Circuit
																											tester’s
																											test
																											channels.
																		
			
				
																						Ein
																											Highlight
																											dieser
																											Integration
																											ist
																											die
																											softwareseitige
																											Ansteuerung
																											der
																											Testkanäle
																											des
																											SPEA
																											In-Circuit-Tester.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											new
																											TIC022
																											module
																											can
																											be
																											integrated
																											in
																											application
																											critical
																											environments
																											such
																											as
																											In-Circuit
																											Test
																											(ICT)
																											fixtures.
																		
			
				
																						Die
																											neuen
																											TIC022-Module
																											können
																											in
																											applikationskritischen
																											Umgebungen
																											wie
																											In-Circuit-Test-Fixtures
																											integriert
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						In
																											the
																											short-circuit
																											test
																											the
																											motor
																											must
																											be
																											secured,
																											whereby
																											the
																											danger
																											of
																											an
																											overloading
																											can
																											result.
																		
			
				
																						Beim
																											Kurzschlussversuch
																											muss
																											der
																											Motor
																											festgestellt
																											werden,
																											wobei
																											sich
																											die
																											Gefahr
																											einer
																											Überlastung
																											ergeben
																											kann.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											contrast,
																											the
																											behavior
																											of
																											the
																											test
																											transformer
																											in
																											the
																											test
																											circuit
																											is
																											highly
																											capacitive
																											when
																											the
																											test
																											voltage
																											frequency
																											is
																											high.
																		
			
				
																						Hingegen
																											ist
																											bei
																											einer
																											hohen
																											Frequenz
																											der
																											Prüfspannung
																											das
																											Verhalten
																											des
																											Prüftransformators
																											im
																											Prüfkreis
																											stark
																											kapazitiv.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						WO
																											96/24069
																											concerns
																											a
																											device
																											for
																											the
																											testing
																											of
																											flat
																											components
																											(in-circuit
																											test).
																		
			
				
																						Die
																											WO
																											96/24069
																											betrifft
																											eine
																											Vorrichtung
																											zum
																											Testen
																											von
																											Flachbaugruppen
																											(In-Circuit-Test).
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											JTAG/Boundary
																											Scan
																											hardware
																											platform
																											SCANFLEX
																											supports
																											TERADYNE’s
																											Spectrum
																											series
																											of
																											the
																											type
																											In-Circuit
																											Test.
																		
			
				
																						Die
																											JTAG/Boundary
																											Scan
																											Hardwareplattform
																											SCANFLEX
																											unterstützt
																											die
																											Spectrum-Serie
																											von
																											In-Circuit
																											Testern
																											der
																											Firma
																											Teradyne.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						As
																											a
																											result,
																											the
																											iTIC
																											can
																											be
																											integrated
																											into
																											application
																											critical
																											environments
																											such
																											as
																											In-Circuit
																											test
																											fixtures.
																		
			
				
																						Daher
																											kann
																											das
																											iTIC
																											auch
																											in
																											applikationskritischen
																											Umgebungen
																											wie
																											In-Circuit
																											Test
																											Fixtures
																											integriert
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						On
																											its
																											path
																											across
																											the
																											contact
																											rg,
																											which
																											is
																											actuated
																											by
																											the
																											register,
																											the
																											coupling
																											contact
																											k11
																											which
																											is
																											actuated,
																											for
																											example,
																											when
																											the
																											incoming
																											register
																											Ue11
																											is
																											seized,
																											and
																											by
																											way
																											of
																											the
																											diode
																											D1,
																											the
																											test
																											signal
																											which
																											has
																											been
																											fed
																											in
																											when
																											the
																											floating
																											voltage
																											source
																											Up
																											is
																											connected,
																											causes
																											the
																											response
																											of
																											the
																											opto-electronic
																											switching
																											element
																											OK1
																											which
																											is
																											permanently
																											arranged,
																											by
																											way
																											indication
																											switching
																											means,
																											in
																											the
																											test
																											circuit.
																		
			
				
																						Das
																											mit
																											dem
																											wirksamen
																											Anschalten
																											der
																											erdfreien
																											Spannungsquelle
																											Up
																											eingespeiste
																											Prüfsignal
																											lässt
																											nun
																											auf
																											dem
																											Wege
																											über
																											den
																											vom
																											Register
																											betätigten
																											Kontakt
																											rg,
																											dem
																											beispielsweise
																											bei
																											Belegung
																											der
																											ankommenden
																											Übertragung
																											Ue11
																											betätigten
																											Koppelkontakt
																											k11
																											und
																											über
																											die
																											Diode
																											D1
																											das
																											als
																											Indikationsschaltmittel
																											in
																											dem
																											Prüfkreis
																											fest
																											angeordnete
																											optoelektronische
																											Koppelelement
																											OK1
																											ansprechen.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						If
																											for
																											any
																											reason
																											it
																											should
																											be
																											advantageous
																											in
																											the
																											test
																											circuit
																											forming
																											process
																											according
																											to
																											the
																											invention
																											not
																											to
																											apply
																											clock
																											pulses
																											from
																											the
																											outside
																											these
																											can
																											be
																											derived
																											from
																											the
																											applied
																											test
																											combinational
																											circuit
																											pulses
																											themselves,
																											with
																											test
																											combinational
																											circuit
																											5
																											or
																											5'
																											being
																											extended
																											correspondingly.
																		
			
				
																						Falls
																											es
																											aus
																											irgendwelchen
																											Gründen
																											vorteilhaft
																											sein
																											könnte,
																											Taktgebungsimpulse
																											beim
																											Durchführen
																											des
																											Prüfeinstellverfahrens
																											gemäss
																											der
																											Erfindung
																											nicht
																											von
																											aussen
																											zuführen
																											zu
																											müssen,
																											lassen
																											sich
																											diese
																											auch
																											unter
																											entsprechender
																											Erweiterung
																											des
																											Prüfschaltnetzes
																											5
																											oder
																											5'
																											aus
																											den
																											zugeführten
																											Prüfschaltimpulsen
																											selbst
																											ableiten.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Again,
																											because
																											of
																											the
																											relatively
																											large
																											capacitance
																											between
																											a
																											respective
																											roll
																											under
																											voltage
																											and
																											the
																											conductive
																											foil,
																											a
																											relatively
																											large
																											stationary
																											displacement
																											current
																											will
																											flow
																											in
																											the
																											test
																											circuit
																											if
																											alternating
																											voltage
																											is
																											used
																											for
																											the
																											testing,
																											which
																											renders
																											the
																											fault
																											detection
																											more
																											difficult.
																		
			
				
																						Wegen
																											der
																											verhältnismäßig
																											großen
																											Kapazität
																											zwischen
																											der
																											an
																											Spannung
																											liegenden
																											Rolle
																											und
																											dem
																											Leiterband
																											fließt
																											nämlich
																											bei
																											Verwendung
																											von
																											Wechselspannung
																											im
																											Prüfkreis
																											ein
																											verhältnismäßig.großer
																											stationärer
																											Verschiebungsstrom,
																											der
																											das
																											Erkennen
																											von
																											Isolationsfehlern
																											erschwert.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											functioning
																											of
																											the
																											error
																											memory
																											41
																											is
																											also
																											taken
																											separately
																											into
																											consideration
																											in
																											the
																											test
																											circuit
																											52
																											or
																											is
																											monitored
																											separately
																											by
																											the
																											test
																											circuit
																											52.
																		
			
				
																						Auch
																											die
																											Funktion
																											des
																											Fehlerspeichers
																											41
																											wird
																											getrennt
																											in
																											die
																											Testschaltung
																											52
																											mit
																											einbezogen
																											bzw.
																											von
																											ihr
																											überwacht.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Connected
																											in
																											series
																											with
																											resistor
																											32
																											is
																											the
																											precision
																											resistor
																											RM
																											in
																											the
																											branch
																											of
																											the
																											double-throw
																											contact
																											s1
																											located
																											in
																											the
																											test
																											circuit.
																		
			
				
																						In
																											Serie
																											zum
																											Widerstand
																											32
																											liegt
																											ein
																											Messwiderstand
																											R
																											M
																											in
																											dem
																											Zweig
																											des
																											Umschaltkontaktes
																											s1,
																											der
																											sich
																											im
																											Prüfstromkreis
																											befindet.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											practice
																											a
																											voltage
																											drop
																											is
																											generated
																											in
																											the
																											test
																											circuit
																											between
																											the
																											test
																											electrode
																											and
																											the
																											potentiostat
																											by
																											switching
																											in
																											a
																											small
																											ohmic
																											resistance
																											and
																											this
																											drop
																											is
																											adapted
																											to
																											the
																											voltage
																											drop
																											that
																											occurs
																											between
																											the
																											test
																											electrode
																											and
																											the
																											reference
																											electrode
																											by
																											negative
																											amplification
																											with
																											an
																											amplification
																											factor
																											equal
																											to
																											or
																											greater
																											than
																											1.
																		
			
				
																						In
																											der
																											Praxis
																											wird
																											dazu
																											im
																											Meßkreis
																											zwischen
																											Meßelektrode
																											und
																											Potentiostat
																											durch
																											Einschalten
																											eines
																											kleinen
																											ohmschen
																											Widerstandes
																											ein
																											Spannungsabfall
																											erzeugt,
																											der
																											durch
																											negative
																											Verstärkung
																											mit
																											einem
																											Verstärkungsfaktor
																											>
																											1
																											dem
																											Spannungsabfall
																											angeglichen
																											wird,
																											der
																											am
																											Widerstand
																											zwischen
																											Meß-
																											und
																											Bezugselektrode
																											entsteht.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						By
																											the
																											disconnection
																											of
																											the
																											control
																											any
																											influencing
																											of
																											the
																											motor
																											circuit
																											in
																											the
																											test
																											phase
																											by
																											the
																											motor
																											servo
																											is
																											excluded
																											and
																											at
																											the
																											same
																											time
																											during
																											the
																											test
																											phase
																											only
																											the
																											limited
																											charge
																											of
																											the
																											capacitor
																											49
																											is
																											available
																											as
																											test
																											energy.
																		
			
				
																						Durch
																											die
																											Abtrennung
																											der
																											Regelung
																											wird
																											jede
																											Beeinflussung
																											des
																											Motorstromkreises
																											in
																											der
																											Testpahse
																											durch
																											den
																											Motorservo
																											ausgeschlossen
																											und
																											zugleich
																											steht
																											während
																											der
																											Testphase
																											lediglich
																											die
																											begrenzte
																											Ladung
																											des
																											Kondensators
																											49
																											als
																											Testenergie
																											zur
																											Verfügung.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						It
																											is
																											to
																											be
																											achieved
																											by
																											means
																											of
																											a
																											special
																											construction
																											of
																											the
																											contacts
																											of
																											the
																											test
																											housing
																											that
																											an
																											increase
																											in
																											the
																											pressure
																											applied
																											to
																											the
																											electronic
																											circuit
																											in
																											the
																											test
																											housing
																											fixes
																											the
																											circuit
																											permanently
																											in
																											the
																											housing
																											in
																											the
																											case
																											of
																											a
																											positive
																											result
																											of
																											the
																											electrical
																											test,
																											so
																											that
																											the
																											test
																											housing
																											can
																											be
																											utilized
																											also
																											as
																											a
																											permanent
																											housing
																											for
																											the
																											integrated
																											circuit.
																		
			
				
																						Durch
																											eine
																											spezielle
																											Ausgestaltung
																											der
																											Kontakte
																											des
																											Testgehäuse
																											soll
																											erreicht
																											werden,
																											daß
																											im
																											Fall
																											eines
																											positiv
																											verlaufenden
																											elektrischen
																											Tests
																											durch
																											Erhöhung
																											des
																											Anpreßdrucks
																											der
																											elektronischen
																											Schaltung
																											im
																											Testgehäuse
																											die
																											Schaltung
																											endgültig
																											in
																											dem
																											Gehäuse
																											fixiert
																											und
																											somit
																											das
																											Testgehäuse
																											gleichzeitig
																											als
																											dauerhaftes
																											Gehäuse
																											für
																											die
																											integrierte
																											Schaltung
																											verwendet
																											werden
																											kann.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											value
																											n1
																											thus
																											defines
																											the
																											setting
																											of
																											the
																											set-up
																											time
																											t
																											S
																											and
																											the
																											value
																											n3
																											the
																											setting
																											of
																											the
																											hold
																											time
																											t
																											H
																											in
																											the
																											test
																											circuit.
																		
			
				
																						Der
																											Wert
																											n1
																											legt
																											also
																											die
																											Einstellung
																											der
																											Setup-Zeit
																											t
																											S
																											und
																											der
																											Wert
																											n3
																											die
																											Einstellung
																											der
																											Hold-Zeit
																											t
																											H
																											in
																											der
																											Testschaltung
																											fest.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											delay
																											between
																											these
																											two
																											signals,
																											said
																											delay
																											being
																											set
																											in
																											the
																											test
																											circuit,
																											defines
																											the
																											set-up
																											time
																											or
																											hold
																											time
																											to
																											be
																											tested
																											in
																											the
																											clocked
																											circuit.
																		
			
				
																						Die
																											in
																											der
																											Testschaltung
																											eingestellte
																											Verzögerung
																											zwischen
																											diesen
																											beiden
																											Signalen
																											legt
																											die
																											in
																											der
																											getakteten
																											Schaltung
																											zu
																											testenden
																											Setup-Zeit
																											bzw.
																											Hold-Zeit
																											fest.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						After
																											the
																											current
																											interruption
																											in
																											the
																											auxiliary
																											circuit-breaker
																											(instant
																											t
																											2),
																											the
																											oscillating
																											current
																											continues
																											to
																											flow,
																											also
																											starting
																											with
																											(i
																											hv
																											/B
																											t)
																											t
																											2=0.5
																											Î
																											hv,
																											as
																											sequence
																											current
																											in
																											the
																											test
																											circuit-breaker
																											(i
																											hv
																											/B
																											t).
																		
			
				
																						Nach
																											der
																											Stromunterbrechung
																											des
																											Hilfsschalter,
																											Zeitpunkt
																											t
																											2,
																											fließt
																											der
																											Schwingstrom,
																											beginnend
																											auch
																											mit
																											(i
																											hv
																											B
																											t)
																											t
																											2
																											=
																											0,5
																											Î
																											hv,
																											als
																											Folgestrom
																											im
																											Prüfschalter,
																											i
																											hv
																											/B
																											t,
																											weiter.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											the
																											first
																											test
																											station
																											9
																											the
																											module
																											is
																											subjected
																											to
																											a
																											component
																											or
																											in-circuit
																											test,
																											whereby
																											the
																											individual
																											components
																											fitted
																											and
																											the
																											conducting
																											tracks
																											of
																											the
																											module
																											are
																											tested.
																		
			
				
																						In
																											der
																											ersten
																											Prüfstation
																											9
																											wird
																											die
																											Baugruppe
																											einem
																											Komponenten-
																											oder
																											Incircuit-Test
																											unterworfen,
																											wobei
																											die
																											aufgebrachten
																											Einzelkomponenten
																											und
																											die
																											Leiterbahnen
																											der
																											Baugruppe
																											geprüft
																											werden.
															 
				
		 EuroPat v2