Übersetzung für "Junction surface" in Deutsch
																						The
																											solar
																											cell
																											contains
																											only
																											one
																											pn
																											junction
																											on
																											one
																											surface
																											side
																											of
																											the
																											semiconductor
																											body.
																		
			
				
																						Die
																											Solarzelle
																											enthält
																											nur
																											einen
																											pn-Übergang
																											an
																											einer
																											Oberflächenseite
																											des
																											Halbleiterkörpers.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Without
																											the
																											diffusion,
																											the
																											line
																											of
																											the
																											intersection
																											between
																											the
																											p-n
																											junction
																											and
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											component
																											would
																											lie
																											at
																											31.
																		
			
				
																						Ohne
																											die
																											genannte
																											Diffusion
																											würde
																											die
																											Grenzlinie
																											zwischen
																											dem
																											pn-Übergang
																											und
																											der
																											Oberfläche
																											des
																											Halbleiterbauteil
																											bei
																											31
																											liegen.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											factor
																											G
																											is
																											a
																											geometry
																											factor
																											that
																											is
																											dependent
																											on
																											the
																											distance
																											D
																											of
																											the
																											pn-junction
																											from
																											the
																											surface
																											12
																											of
																											the
																											semiconductor
																											body
																											10,
																											on
																											the
																											width
																											B
																											of
																											the
																											annular
																											strip
																											214
																											of
																											the
																											electrode
																											14
																											lying
																											on
																											the
																											semiconductor
																											surface
																											12
																											and
																											on
																											the
																											conductivity
																											of
																											the
																											semiconductor
																											material.
																		
			
				
																						Der
																											Faktor
																											G
																											ist
																											ein
																											Geometriefaktor,
																											der
																											vom
																											Abstand
																											D
																											des
																											pn-Übergangs
																											von
																											der
																											Oberfläche
																											12
																											des
																											Halbleiterkörpers
																											10,
																											von
																											der
																											Breite
																											B
																											des
																											auf
																											der
																											Halbleiteroberfläche
																											12
																											aufliegenden
																											Ringstreifens
																											214
																											der
																											Elektrode
																											14
																											und
																											von
																											der
																											Leitfähigkeit
																											des
																											Halbleitermaterials
																											abhängt.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						This
																											was
																											followed
																											by
																											concentration
																											in
																											a
																											centrifuge
																											with
																											full
																											casing
																											and
																											with
																											a
																											slenderness
																											ratio
																											of
																											about
																											3,
																											a
																											conical
																											part
																											with
																											an
																											angle
																											of
																											10°,
																											a
																											dry
																											section
																											of
																											115
																											mm
																											caused
																											by
																											difference
																											of
																											20
																											mm
																											between
																											the
																											overflow
																											and
																											sediment
																											discharge
																											diameters),
																											a
																											suspension
																											feed
																											approximately
																											at
																											the
																											cylindrical/conical
																											junction
																											and
																											a
																											surface
																											loading
																											of0.8
																											l/(m2
																											·h).
																		
			
				
																						Anschließend
																											erfolgte
																											die
																											Aufkonzentrierung
																											in
																											einer
																											Vollmantelzentrifuge
																											mit
																											einem
																											Schlankheitsgrad
																											von
																											ca.
																											3,
																											einem
																											Konuswinkel
																											von
																											10°,
																											einer
																											Trockenstrecke
																											von
																											115
																											mm
																											(bedingt
																											durch
																											eine
																											Differenz
																											von
																											20
																											mm
																											zwischen
																											Überlauf-
																											und
																											Schlammabwurfdurchmesser),
																											einem
																											Suspensionszulauf
																											etwa
																											am
																											Übergang
																											Zylinder/Konus
																											und
																											einer
																											Klärflächenbelastung
																											von
																											0,8
																											l/(m²
																											·
																											h).
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											disadvantages
																											which
																											result
																											from
																											such
																											a
																											discontinuity
																											in
																											the
																											profile
																											of
																											the
																											finger
																											period
																											at
																											the
																											junction
																											between
																											two
																											surface
																											acoustic
																											wave
																											structures
																											(in
																											this
																											case
																											two
																											transducers)
																											have
																											already
																											been
																											explained
																											in
																											the
																											introduction.
																		
			
				
																						Die
																											Nachteile,
																											die
																											aus
																											einem
																											solchen
																											unstetigen
																											Verlauf
																											der
																											Fingerperiode
																											am
																											Übergang
																											zwischen
																											zwei
																											Oberflächenwellenstrukturen
																											(hier
																											zwei
																											Wandlern)
																											entstehen,
																											wurden
																											eingangs
																											bereits
																											erläutert.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						It
																											is
																											possible
																											that
																											peaks
																											which
																											may
																											be
																											conductive
																											and
																											which
																											result
																											in
																											field
																											distortions
																											may
																											be
																											present
																											at
																											the
																											surface
																											at
																											the
																											junction
																											between
																											the
																											surface
																											and
																											the
																											adhesive
																											layer.
																		
			
				
																						Es
																											ist
																											möglich,
																											dass
																											am
																											Übergang
																											zwischen
																											der
																											Oberfläche
																											und
																											der
																											Haftschicht
																											eventuell
																											leitende
																											Spitzen
																											an
																											der
																											Oberfläche
																											vorhanden
																											sind,
																											die
																											zu
																											Feldverzerrungen
																											führen.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											the
																											course
																											of
																											the
																											process
																											of
																											implanting
																											impurities
																											of
																											the
																											conductivity
																											type
																											of
																											the
																											base
																											region,
																											for
																											example,
																											boron
																											in
																											the
																											case
																											of
																											an
																											integrated
																											NPN
																											planar
																											transistor,
																											at
																											least
																											the
																											area
																											of
																											the
																											N-channel
																											field-effect
																											transistor
																											should
																											be
																											protected
																											with
																											the
																											aid
																											of
																											photoresist
																											mask
																											in
																											cases
																											where
																											the
																											possible
																											formation
																											of
																											a
																											disturbing
																											PN
																											junction
																											on
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											n-doped
																											regions
																											25
																											is
																											feared.
																		
			
				
																						Bei
																											dem
																											Implantationsprozeß
																											von
																											Verunreinigungen
																											des
																											Leistungstyps
																											der
																											Basiszone,
																											beispielsweise
																											Bor
																											im
																											Falle
																											eines
																											integrierten
																											NPN-Planartransistors,
																											sollte
																											zumindest
																											der
																											Bereich
																											des
																											N-Kanal-Feldeffekttransistors
																											mittels
																											einer
																											Photolackmaske
																											geschützt
																											werden,
																											wenn
																											die
																											Ausbildung
																											eines
																											störenden
																											PN-Übergangs
																											an
																											der
																											Oberfläche
																											der
																											n-dotierten
																											Zonen
																											25
																											zu
																											befürchten
																											ist.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											power
																											semiconductors,
																											which
																											usually
																											have
																											to
																											satisfy
																											high
																											requirements
																											in
																											relation
																											to
																											the
																											reverse
																											voltage,
																											it
																											is
																											therefore
																											necessary
																											to
																											reduce
																											the
																											electrical
																											field
																											at
																											the
																											P-N
																											junction
																											on
																											the
																											surface,
																											which
																											is
																											synonymous
																											with
																											a
																											widening
																											of
																											the
																											space
																											charge
																											zone
																											associated
																											with
																											the
																											P-N
																											junction.
																		
			
				
																						Bei
																											Leistungshalbleitern,
																											die
																											bezüglich
																											der
																											Sperrspannung
																											üblicherweise
																											hohen
																											Anforderungen
																											genügen
																											müssen,
																											ist
																											es
																											daher
																											notwendig,
																											das
																											elektrische
																											Feld
																											am
																											P-N-Uebergang
																											auf
																											der
																											Oberfläche
																											zu
																											reduzieren,
																											was
																											gleichbedeutend
																											ist
																											mit
																											einer
																											Verbreiterung
																											der
																											zum
																											P-N-Uebergang
																											gehörenden
																											Raumladungszone.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											essence
																											of
																											the
																											invention
																											is
																											to
																											provide,
																											in
																											the
																											edge
																											region
																											of
																											the
																											semiconductor
																											component
																											in
																											which
																											the
																											P-N
																											junction
																											formed
																											by
																											a
																											thin
																											upper
																											doping
																											region
																											and
																											the
																											substrate
																											situated
																											below
																											it
																											emerges
																											at
																											the
																											surface,
																											an
																											oppositely
																											doped
																											lower
																											doping
																											region,
																											which
																											limits
																											the
																											charge
																											carriers
																											available
																											in
																											the
																											bulk
																											of
																											the
																											substrate
																											and
																											thus
																											reduces
																											the
																											maximum
																											field
																											strength
																											where
																											the
																											P-N
																											junction
																											intersects
																											the
																											surface,
																											in
																											the
																											bulk
																											of
																											the
																											substrate
																											below
																											the
																											P-N
																											junction.
																		
			
				
																						Der
																											Kern
																											der
																											Erfindung
																											besteht
																											darin,
																											im
																											Randbereich
																											des
																											Halbleiterbauelements,
																											in
																											dem
																											der
																											durch
																											eine
																											dünne
																											obere
																											Dotierungszone
																											und
																											das
																											darunterliegende
																											Substrat
																											gebildete
																											P-N-Uebergang
																											an
																											die
																											Oberfläche
																											tritt,
																											unterhalb
																											des
																											P-N-Uebergang
																											im
																											Volumen
																											des
																											Substrats
																											eine
																											entgegengesetzt
																											dotierte
																											untere
																											Dotierungszone
																											vorzusehen,
																											die
																											im
																											Volumen
																											des
																											Substrats
																											die
																											verfügbaren
																											Ladungsträger
																											begrenzt
																											und
																											so
																											die
																											maximale
																											Feldstärke
																											im
																											Bereich
																											des
																											Oberflächendurchtritts
																											des
																											P-N-Uebergangs
																											herabsetzt.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											apparatus
																											of
																											claim
																											1,
																											further
																											comprising
																											a
																											layer
																											of
																											silicide
																											material
																											on
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											first
																											junction
																											region,
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											second
																											junction
																											region,
																											and
																											the
																											gate
																											electrode
																											(132),
																											wherein
																											the
																											layer
																											of
																											silicide
																											material
																											comprises
																											one
																											of
																											nickel
																											silicide
																											(NiSi),
																											titanium
																											silicide
																											(TiSi2),
																											and
																											cobalt
																											silicide
																											(CoSi2).
																		
			
				
																						Vorrichtung
																											gemäß
																											Anspruch
																											1,
																											ferner
																											umfassend
																											eine
																											Schicht
																											von
																											Silicidmaterial
																											auf
																											der
																											Oberfläche
																											des
																											ersten
																											Übergangsbereichs,
																											der
																											Oberfläche
																											des
																											zweiten
																											Übergangsbereichs
																											und
																											der
																											Gate-Elektrode
																											(132),
																											wobei
																											die
																											Schicht
																											von
																											Silicidmaterial
																											eines
																											von
																											Nickelsilicid
																											(NiSi),
																											Titansilicid
																											(TiSi2)
																											und
																											Cobaltsilicid
																											(CoSi2)
																											umfasst.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Therefore,
																											if
																											the
																											passivating
																											layer
																											is
																											undercut
																											beneath
																											the
																											mask
																											opening,
																											the
																											layer
																											will
																											not
																											properly
																											overlap
																											the
																											implanted
																											emitter/base
																											junction
																											at
																											the
																											surface
																											of
																											the
																											substrate
																											and
																											device
																											yields
																											are
																											reduced.
																											This
																											undercutting
																											occurs
																											when
																											etching
																											through
																											composite
																											layers
																											of
																											silicon
																											nitride
																											and
																											silicon
																											oxide
																											to
																											open
																											the
																											emitter
																											area
																											where
																											a
																											difference
																											in
																											the
																											thickness
																											of
																											the
																											oxide
																											layer
																											between
																											collector
																											and
																											emitter
																											requires
																											an
																											overetch
																											of
																											the
																											emitter
																											opening
																											in
																											order
																											to
																											remove
																											a
																											thicker
																											oxide
																											layer
																											portion
																											over,
																											for
																											example,
																											a
																											collector
																											or
																											Schottky
																											barrier
																											diode
																											contact
																											region.
																		
			
				
																						Durch
																											die
																											Unterätzung
																											der
																											passivierenden
																											Maske
																											wird
																											der
																											Emitter-Basis-Übergang
																											an
																											der
																											Oberfläche
																											des
																											Halbleitersubstrats
																											nicht
																											abgedeckt,
																											so
																											daß
																											sich
																											ein
																											Ausbeuteverlust
																											einstellt.
																											Die
																											genannte
																											Unterätzung
																											tritt
																											dann
																											auf,
																											wenn
																											die
																											Maske
																											aus
																											einer
																											Doppelschicht
																											von
																											beispielsweise
																											Siliciumnitrid
																											und
																											Siliciumoxid
																											besteht.
																											Es
																											zeigt
																											sich
																											nämlich,
																											daß
																											beim
																											Aufbringen
																											der
																											Siliciumoxidschicht
																											diese
																											im
																											Bereich
																											über
																											der
																											Kollektorzone
																											schneller
																											wächst
																											als
																											über
																											dem
																											Bereich
																											der
																											die
																											Emitterzone
																											aufnehmenden
																											Basiszone.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											present
																											invention
																											relates
																											to
																											a
																											process
																											for
																											mounting
																											components
																											with
																											surface
																											junctions,
																											in
																											particular
																											flat,
																											film-shaped
																											components,
																											to
																											printed-circuit
																											boards,
																											wherein
																											the
																											junctions
																											are
																											connected
																											by
																											soldering
																											to
																											the
																											printed-circuit
																											board.
																		
			
				
																						Die
																											vorliegende
																											Erfindung
																											bezieht
																											sich
																											auf
																											ein
																											Verfahren
																											zum
																											Befestigen
																											von
																											Bauelementen
																											mit
																											flächigen
																											Anschlußkontakten,
																											insbesonders
																											von
																											flachen,
																											filmartigen
																											Bauelementen,
																											auf
																											Leiterplatten,
																											bei
																											dem
																											die
																											Anschlußkontakte
																											durch
																											Löten
																											mit
																											der
																											Leiterplatte
																											verbunden
																											werden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						It
																											is
																											furthermore
																											known
																											to
																											control
																											the
																											temperature
																											at
																											the
																											surface
																											of
																											a
																											printed-circuit
																											board
																											by
																											means
																											of
																											a
																											heating
																											plate
																											or
																											radiators
																											in
																											such
																											manner
																											that
																											the
																											soldering
																											temperature
																											is
																											achieved
																											at
																											the
																											desired
																											connection
																											sites
																											of
																											the
																											conductors
																											on
																											the
																											printed-circuit
																											board
																											and
																											the
																											surface
																											junctions
																											of
																											the
																											components.
																		
			
				
																						Es
																											ist
																											weiterhin
																											bekannt,
																											mittels
																											einer
																											Wärmeplatte
																											oder
																											Strahlern
																											die
																											Temperatur
																											auf
																											der
																											Oberfläche
																											einer
																											Leiterplatte
																											so
																											zu
																											steuern,
																											daß
																											an
																											den
																											gewünschten
																											Verbindungsstellen
																											von
																											Leiterbahnen
																											auf
																											der
																											Leiterplatte
																											und
																											den
																											flächigen
																											Anschlußkontakten
																											der
																											Bauelemente
																											die
																											Löttemperatur
																											erreicht
																											wird.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						This
																											process
																											offers
																											the
																											feasibility
																											to
																											mount
																											a
																											plurality
																											of
																											components
																											with
																											surface
																											junctions
																											to
																											the
																											printed-circuit
																											board
																											in
																											one
																											operational
																											step.
																		
			
				
																						Dieses
																											Verfahren
																											bietet
																											die
																											Möglichkeit,
																											eine
																											Vielzahl
																											von
																											Bauelementen
																											mit
																											flächigen
																											Anschlußkontakten
																											in
																											einem
																											Arbeitsvorgang
																											auf
																											der
																											Leiterplatte
																											zu
																											befestigen.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											order
																											to
																											mount
																											for
																											instance
																											component
																											10,
																											the
																											template
																											is
																											so
																											placed
																											that
																											the
																											recess
																											26
																											points
																											upward,
																											and
																											a
																											component
																											10
																											is
																											so
																											placed
																											into
																											the
																											recess
																											26
																											with
																											the
																											surface
																											junctions
																											12,13
																											pointing
																											upward
																											(that
																											is,
																											downward
																											in
																											FIG.
																		
			
				
																						Zum
																											Befestigen
																											beispielsweise
																											des
																											Bauelements
																											10
																											wird
																											die
																											Schablone
																											so
																											gelegt,
																											daß
																											die
																											Aussparung
																											26
																											nach
																											oben
																											weist,
																											und
																											ein
																											Bauelement
																											10
																											wird
																											so
																											in
																											die
																											Aussparung
																											26
																											eingelegt,
																											daß
																											die
																											flächigen
																											Anschlußkontakte
																											12,13
																											nach
																											oben,
																											(d.h.
																											in
																											Fig.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						In
																											principle
																											all
																											components
																											with
																											surface
																											junctions
																											can
																											be
																											soldered
																											to
																											a
																											printed-circuit
																											board
																											by
																											the
																											process
																											of
																											the
																											invention.
																		
			
				
																						Grundsätzlich
																											können
																											nach
																											dem
																											erfindungsgemäßen
																											Verfahren
																											sämtliche
																											mit
																											flächigen
																											Anschlußkontakten
																											versehene
																											Bauelemente
																											auf
																											einer
																											Leiterplatte
																											verlötet
																											werden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						A
																											component
																											edge
																											is
																											produced
																											by
																											the
																											separation
																											at
																											which
																											pn-junction
																											barrier
																											surfaces
																											come
																											to
																											the
																											surface
																											and
																											thereby
																											come
																											into
																											contact
																											with
																											the
																											atmosphere
																											surrounding
																											the
																											component.
																		
			
				
																						Durch
																											das
																											Trennen
																											entsteht
																											ein
																											Bauelementenrand,
																											an
																											dem
																											sperrende
																											pn-Ubergangsflächen
																											an
																											die
																											Oberfläche
																											treten
																											und
																											dadurch
																											mit
																											der
																											das
																											Bauelement
																											umgebenden
																											Atmosphäre
																											in
																											Kontakt
																											kommen.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						A
																											passivation
																											layer
																											13
																											covers
																											those
																											parts
																											of
																											this
																											main
																											surface
																											at
																											which
																											p-n
																											junctions
																											meet
																											the
																											surface.
																		
			
				
																						Eine
																											Passivierungsschicht
																											13
																											deckt
																											diejenigen
																											Teile
																											der
																											genannten
																											Hauptoberfläche
																											ab,
																											an
																											denen
																											pn-Übergänge
																											an
																											die
																											Oberfläche
																											treten.
															 
				
		 EuroPat v2