Übersetzung für "Scatterometry" in Deutsch
																						Scatterometry
																											is
																											an
																											indirect
																											optical
																											measurement
																											method
																											and
																											is
																											used
																											to
																											measure
																											periodic
																											nanostructures
																											at
																											surfaces.
																		
			
				
																						Die
																											Scatterometrie
																											ist
																											eine
																											indirekte
																											optische
																											Messung,
																											bei
																											nano-strukturierte
																											Oberflächen
																											vermessen
																											werden.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						The
																											second
																											application
																											deals
																											with
																											the
																											statistical
																											inverse
																											problem
																											in
																											scatterometry.
																		
			
				
																						Die
																											zweite
																											Anwendung
																											umfasst
																											das
																											statistische
																											inverse
																											Problem
																											in
																											der
																											Scatterometrie.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						In
																											contrast
																											to
																											the
																											optical
																											microscopy,
																											scatterometry
																											does
																											not
																											produce
																											a
																											true
																											image
																											of
																											the
																											target.
																		
			
				
																						Im
																											Gegensatz
																											zur
																											optischen
																											Mikroskopie
																											wird
																											bei
																											der
																											Scatterometrie
																											kein
																											getreues
																											Abbild
																											des
																											Gegenstandes
																											erzeugt.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						GNSS
																											signals
																											that
																											are
																											reflected
																											from
																											the
																											sea
																											surface
																											can
																											be
																											used
																											for
																											measuring
																											the
																											height
																											of
																											the
																											sea
																											surface
																											and
																											also
																											allow
																											conclusions
																											to
																											be
																											drawn
																											about
																											the
																											scattering
																											properties
																											of
																											the
																											sea
																											surface
																											for
																											the
																											purposes
																											of
																											scatterometry.
																		
			
				
																						Von
																											der
																											Meeresoberfläche
																											reflektierte
																											GNSS-Signale
																											können
																											zur
																											Messung
																											der
																											Höhe
																											der
																											Meeresoberfläche
																											verwendet
																											werden
																											und
																											lassen
																											darüber
																											hinaus
																											auch
																											Schlüsse
																											auf
																											die
																											Streuungseigenschaften
																											der
																											Meeresoberfläche
																											im
																											Sinne
																											der
																											Scatterometrie
																											zu.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						GFZ
																											therefore
																											suggests
																											developing
																											GPS
																											occultation,
																											reflectometry
																											and
																											scatterometry
																											(GORS)
																											receiver
																											technology
																											based
																											on
																											COTS,
																											on
																											the
																											basis
																											of
																											a
																											low
																											flying
																											mini-satellite
																											constellation
																											as
																											a
																											quintessential
																											instrument
																											for
																											a
																											future
																											tsunami
																											detection
																											system.
																		
			
				
																						Das
																											GFZ
																											schlägt
																											daher
																											vor
																											GPS-Okkultation,
																											Reflektometrie
																											und
																											Scatterometrie
																											(GORS)-Empfängersystem
																											auf
																											der
																											Grundlage
																											der
																											COTS
																											GPS
																											Empfängertechnik
																											als
																											Kerninstrument
																											für
																											ein
																											zukünftiges
																											Tsunami-Detektionssystem
																											im
																											Rahmen
																											einer
																											niedrig
																											fliegenden
																											Kleinsatellitenkonstellation
																											zu
																											entwickeln.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						For
																											such
																											measurement
																											tasks
																											the
																											method
																											of
																											scatterometry
																											is
																											inappropriate
																											because
																											it's
																											too
																											slow
																											for
																											measuring
																											representative
																											sets
																											of
																											structures
																											on
																											an
																											entire
																											wafer.
																		
			
				
																						Für
																											solche
																											Messaufgaben
																											ist
																											z.B.
																											die
																											Methode
																											der
																											Scatterometrie
																											ungeeignet,
																											da
																											sie
																											für
																											eine
																											repräsentative
																											Stichprobe
																											eines
																											gesamten
																											Wafers
																											zu
																											langsam
																											ist.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						This
																											benefits
																											especially
																											the
																											development
																											of
																											novel
																											measurement
																											procedures
																											based
																											on
																											EUV
																											reflectometry
																											and
																											scatterometry
																											for
																											the
																											investigation
																											of
																											structured
																											surfaces.
																		
			
				
																						Davon
																											profitiert
																											vor
																											allem
																											die
																											Entwicklung
																											neuartiger
																											Messverfahren
																											für
																											die
																											Untersuchung
																											strukturierter
																											Oberflächen
																											auf
																											der
																											Basis
																											von
																											EUV-Reflektometrie
																											und
																											-Scatterometrie.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1
			
																						Due
																											to
																											the
																											short
																											wavelength
																											used,
																											these
																											procedures
																											could
																											in
																											future
																											complement
																											or
																											even
																											replace
																											optical
																											scatterometry
																											in
																											structure
																											measurements
																											on
																											semiconductor
																											wafers.
																		
			
				
																						Diese
																											könnten
																											in
																											Zukunft,
																											wegen
																											der
																											verwendeten
																											kurzen
																											Wellenlänge,
																											die
																											optische
																											Scatterometrie
																											bei
																											der
																											Vermessung
																											von
																											Strukturen
																											auf
																											Halbleiterwafern
																											ergänzen
																											oder
																											gar
																											ersetzen.
															 
				
		 ParaCrawl v7.1