Übersetzung für "Test pattern generator" in Deutsch

Thus, the shift pulse generator 20 and the test shift pattern generator 1 generate the shift pulses and the test shift pattern which are necessary for transferring the information of the test object 4 to the storage 2 (auxiliary storage).
Der Schiebeimpulsgenerator 20 und der Nachschiebemustergenerator 1 sorgen also für die Erzeugung der Schiebeimpulse und des Nachschiebemusters, die für die Übertragung der Information des Prüflings 4 in den Speicher 2 (Zwischenspeicher) erforderlich sind.
EuroPat v2
The component parts shown as the sole component parts of this assembly are related to this latter tests, in particular a test pattern generator TPG, a test pattern receiver TPE, and a time channel switch MTS by way of which, mainly, the telecommunication information from and to the links are conducted and by way of which the test patterns transmitted by the pattern generator TPG can be transmitted on a time channel-suited basis onto the data output line DATOx or, respectively, information incoming from the data input line DATIx which will be a matter of mirrored test patterns can be transmitted to the test pattern receiver TPE.
Im Zusammenhang mit der letztgenannten Prüfung stehen die hier als einzige Bestandteile dieser Baugruppe dargestellten Bestandteile, nämlich ein Prüfmustergenerator TPG, ein Prüfmusterempfänger TPE, sowie ein Zeitkanalschalter MTS, über den in erster Linie die Fernmeldeinformationen von und zu den Verbindungsleitungen geleitet werden und über den vom Mustergenerator gesendete Prüfmuster zeitkanalgerecht auf die Datenausgangsleitung DATOx gegeben bzw. von der Dateneingangsleitung DATIx ankommende Informationen, bei denen es sich dann um gespiegelte Prüfmuster handeln wird, an den Prüfmusterempfänger gegebenen werden können.
EuroPat v2
During the time channel K127, the test pattern generator TPG of the assembly LIUx transmits a check word that proceeds via the line DATOx to the control module SDCC and is forwarded from the control module SDCC to the write-read memory EMU.
Während des Zeitkanals K127 sendet der Prüfmustergenerator TPG der Baugruppe LIUx ein Prüfwort, das über die Leitung DATOx an den Steuerbaustein SDCC gelangt und von dort an den Schreib-Lese-Speicher EMU weitergegeben wird.
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For generating the test shift pattern, the test shift pattern generator 1 requires a signal designated as step "1", which via line 22 is transferred from the shift pulse generator 20 to the test shift pattern generator 1.
Für die Erzeugung des Nachschiebemusters benötigt der Nachschiebemustergenerator 1 ein Signal, das mit Schritt "1" bezeichnet ist und über die Leitung 22 vom Schiebeimpulsgenerator 20 zum Nachschiebemustergenerator 1 übertragen wird.
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In this case, the test pattern generator KPG of the assembly LIUy transmits test patterns during the time channels KO-K127 that proceed via the control module SDCC to the write-read memory EMU and then proceed from the write-read memory EMU via the switch-over element U3, that assumes the switch position opposite to that shown in FIG. 3, and via the data line DATIy back to the assembly LIUY where a connection through to the test pattern receiver TPE occurs.
In diesem Falle sendet der Prüfmustergenerator TPG der Baugruppe LIUy während dieser Kanäle K0 bis K127 Prüfmuster, die über den Steuerbaustein SDCC an den Schreib-Lese-Speicher EMU gelangen und von dort über den Teil U3 des Umschalters, der hierzu die gegenüber der Darstellung in FIG 2 entgegengesetzte Schaltstellung einnimmt, und über die Datenleitung DATIy wieder zurück an die Baugruppe LIUy gelangen, wo eine Durchschaltung zum Prüfmusterempfänger TPE erfolgt.
EuroPat v2
In order to be able to also acquire central faults in the voice path that can affect all of the through-connected connections, a check bit pattern supplied by a test pattern generator is respectively supplied into the separate time channel in the interface of the switching network side between the respective test steps in the separate time channel pertaining to the individual time channels. The check list pattern is transmitted to the interface at the line side, is mirrored thereat and is in turn transmitted back to the interface at the switching network side where a comparison occurs to the check bit pattern that was transmitted.
Um auch zentrale Fehler im Sprechweg erfassen zu können, die sich auf sämtliche der durchgeschalteten Verbindungen auswirken können, wird zwischen den die einzelnen Zeitkanäle betreffenden Prüfschritten jeweils in dem gesonderten Zeitkanal ein von einem Prüfmustergenerator geliefertes Prüfbitmuster in der koppelfeldseitigen Schnittstelle in diesen gesonderten Zeitkanal eingespeist, bis zur leitungsseitigen Schnittstelle übertragen, dort gespiegelt und wieder bis zur koppelfeldseitigen Schnittstelle zurückübertragen, wo ein Vergleich mit dem ausgesendeten Prüfbitmuster erfolgt.
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Firstly, a test pattern must be generated via an external drive.
Zunächst muss über eine externe Ansteuerung ein Testmuster erzeugt werden.
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The test pattern is generated on the basis of these signals.
Auf Grund dieser Signale wird das Testmuster erzeugt.
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In a further operating state, test patterns are generated in the BILBO register and transmitted.
In einem weiteren Betriebszustand werden in dem BILBO-Register Testmuster generiert und gesendet.
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The invention relates to a circuit cell for test pattern generation and test pattern compression in integrated circuits with a built-in self-test function.
Die Erfindung betrifft eine Schaltungszelle zur Testmuster-Generierung und Testmuster-Kompression in integrierten Schaltungen mit eingebauter Selbsttestfunktion.
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Stimulus edge test patterns are electronically generated and displayed on a high intensity, high resolution display monitor 50.
Die Testmuster für die Stimulus-Schwelle werden elektronisch erzeugt und auf einen hochauflösenden Bildschirm-Monitor 50 mit hoher Intensität dargestellt.
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Thus the obvious solution utilized by the prior art has been to have one PLA feeding another PLA in order to maintain high efficient personalization, and modelling the resulting structure in terms of single logic gates for the purpose of test pattern generation.
Daher war die naheliegende Lösung nach dem Stand der Technik, daß ein PLA ein anderes speiste, um eine sehr wirksame Personalisierung beizubehalten, und die resultierende Struktur in Form von Grundverknüpfungsgliedern zum Zweck der Prüfmustererzeugung nachzubilden.
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Thus, patterns for combinations of PLAs can only be generated for both PLAs if all logic is modelled for purposes of test pattern generation by primitives (AND, OR, NAND, NOR).
Daher können Muster für Kombinationen von PLA für beide PLA nur erzeugt werden, wenn die gesamte Logik für Zwecke der Prüfmustererzeugung durch Grundverknüpfungsglieder (UND, ODER, NAND, NOR) nachgebildet ist.
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Thus, the test patterns can be generated for busses and present no difficulty as do other non-linear devices.
Daher können die Prüfmuster für Übertragungswege erzeugt werden und bereiten keine Schwierigkeiten wie das andere nichtlineare Einrichtungen tun.
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Consequently, means are provided for test pattern generation which use the deterministic data words supplied by the data word generator 2 to generate prescribed, deterministic test patterns and desired output patterns.
Es sind daher Mittel zur Testmuster-Generierung vorgesehen, die aus den von dem Datenwort-Generator 2 gelieferten deterministischen Datenworte vorgegebene, deterministische Testmuster und Soll-Ausgangsmuster erzeugen.
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The bit flipping logic circuits 3, 4 and 5 are driven by means of a bit flipping controller 6, which likewise belongs to the means for test pattern generation.
Die Bit-Flipping-Logiken 3, 4 und 5 werden mittels einer Bit-Flipping-Staierung 6, welche ebenfalls zu den Mitteln zur Testmuster-Generierung gehört, angssteuert.
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The invention provides a circuit cell for test pattern generation and test pattern compression in circuits with a built-in self-test function, the circuit cell having:
Die Erfindung schafft eine Schaltungszelle zur Testmuster-Generierung und Testmusterkompressipn in Schaltungen mit eingebauter Selbsttestfunktion, wobei die Schaltungszelle aufweist:
EuroPat v2
However, it is rather possible to use the data word generator and the means of test pattern generation to generate sequentially a sequence of consecutive test patterns without the need for these to be individually present in a memory.
Testvektoren gespeichert sind Vielmehr kann eine Folge aufeinanderfolgender Testmuster durch den Dakenwort-Generator und die Mittel zur Testmuster-Generierung sequenziell erzeugt werden, ohne dass diese im einzelnen in einem Speicher vorhanden sein müssen.
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A second means V2 accepts the read-out test pattern TM, again generates a monitoring pattern from the data pattern according to the code of FIG. 1 and subsequently generates a syndrome pattern SM by XOR formation over all bit positions of the new monitoring pattern with the old monitoring pattern.
Eine zweite Einrichtung V2 übernimmt das ausgelesene Testmuster (TM), erzeugt nach dem Code gemäß FIG 1 aus dem Datenmuster erneut ein Kontrollmuster und anschließend durch EXOR-Bildung über sämtliche Bitstellen des neuen Kontrollmuster mit dem alten Kontrollmuster ein Syndrommuster SM.
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It may be stated in summary that in the exemplary embodiment in accordance with FIG. 1, the data word generator and the means for test pattern generation, that is to say in particular the bit flipping logic circuits and the bit flipping controller, serve the purpose both of generating test patterns which are fed on the input side to the integrated circuit to be tested, and of generating desired output patterns which are compared with actual output patterns of the integrated circuit during testing.
Zusammenfassend ist festzustellen, dass in dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 1 der Datenwort-Generator und die Mittel zur Testmuster-Generierung, also insbesondere die Bit-Flipping-Logiken und die Bit-Flipping-Steuerung dazu dienen, sowohl Testmuster zu generieren, die eingangsseitig dem zu testenden integrierten Schaltkreis zugeführt werden, als auch Soll-Ausgangsmuster, die mit tatsächlichen Ausgangsmustern des integrierten Schaltkreises beim Testen verglichen werden.
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Together with the data pattern, the monitoring pattern of the second test pattern generated in this manner is written into the smallest addressable unit and is again read out in the following third test cycle.
Das auf die genannte Art erzeugte Kontrollmuster des zweiten Testmusters wird zusammen mit dem Datenmuster in die kleinste adressierbare Einheit eingeschrieben und im darauffolgenden dritten Testzyklus wieder ausgelesen.
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