Übersetzung für "Vlsi technology" in Deutsch
																						Such
																											etching
																											processes
																											are
																											critical
																											production
																											steps
																											in
																											VLSI
																											technology
																											and
																											are
																											to
																											be
																											avoided
																											insofar
																											as
																											possible.
																		
			
				
																						Ätzprozesse
																											sind
																											in
																											der
																											VLSI-Technologie
																											kritische
																											Fertigungsschritte
																											und
																											sollen
																											nach
																											Möglichkeit
																											vermieden
																											werden.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											method
																											is
																											used
																											in
																											the
																											manufacture
																											of
																											VLSI
																											CMOS
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology.
																		
			
				
																						Das
																											Verfahren
																											wird
																											angewandt
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											hochintegrierten
																											CMOS-Schaltungen
																											in
																											VLSI-Technologie.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											method
																											serves
																											for
																											the
																											manufacture
																											of
																											analog
																											and
																											digital
																											CMOS
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology.
																		
			
				
																						Das
																											Verfahren
																											dient
																											der
																											Herstellung
																											von
																											analog,
																											digital
																											CMOS-Schaltungen
																											in
																											VLSi-Technologie.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											invention
																											is
																											useful
																											in
																											the
																											manufacture
																											of
																											MOS-circuits
																											in
																											VLSI-technology.
																		
			
				
																						Die
																											Erfindung
																											ist
																											anwendbar
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											MOS-Schaltungen
																											in
																											VLSI-Technologie.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						A
																											further
																											field
																											of
																											application
																											exists
																											in
																											the
																											field
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											ciruits
																											in
																											VLSI-technology
																											for
																											the
																											production
																											of
																											negative
																											photo-resists.
																		
			
				
																						Ein
																											weiteres
																											Anwendungsgebiet
																											liegt
																											im
																											Bereich
																											der
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technik
																											bei
																											der
																											Erzeugung
																											von
																											Negativ-Fotoresists.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						A
																											further
																											area
																											of
																											employment
																											lies
																											in
																											the
																											field
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology
																											when
																											producing
																											negative
																											photo-resists.
																		
			
				
																						Ein
																											weiteres
																											Anwendungsgebiet
																											liegt
																											im
																											Bereich
																											der
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technik
																											bei
																											der
																											Erzeugung
																											von
																											Negativ-Fotoresists.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						This
																											technique
																											is
																											useful
																											for
																											manufacturing
																											VLSI
																											CMOS
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology
																											with
																											and
																											without
																											switched
																											capacitors.
																		
			
				
																						Das
																											Verfahren
																											wird
																											verwendet
																											für
																											die
																											Herstellung
																											von
																											hochintegrierten
																											CMOS-Schaltungen
																											in
																											VLSI-Technologie
																											mit
																											und
																											ohne
																											Schaltkapazitäten.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											invention
																											will
																											be
																											further
																											described
																											in
																											an
																											exemplary
																											embodiment
																											wherein
																											a
																											process
																											sequence
																											for
																											source/drain
																											implantation
																											of
																											p-
																											and
																											n-
																											channel
																											transistors
																											occurs
																											and
																											the
																											production
																											of
																											capacitances
																											within
																											a
																											CMOS
																											process
																											for
																											manufacture
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology
																											is
																											described.
																		
			
				
																						Als
																											Ausführungsbeispiel
																											wird
																											der
																											Prozeßablauf
																											für
																											die
																											Source/Drain-Implantation
																											der
																											p-
																											und
																											n-Kanal-Transistoren
																											und.die
																											Herstellung
																											von
																											Kapazitäten
																											innerhalb
																											eines
																											CMOS-Prozesses
																											zur
																											Herstellung
																											von
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technologie
																											beschrieben.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						For
																											this
																											reason,
																											and
																											also
																											on
																											account
																											of
																											the
																											very
																											low
																											Dc
																											and
																											the
																											good
																											resolution,
																											the
																											polymer
																											systems
																											in
																											accordance
																											with
																											the
																											invention
																											are
																											best
																											suitable
																											for
																											use
																											as
																											high-temperature-resistant
																											negative
																											resists
																											in
																											the
																											production
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											circuits
																											in
																											VLSI-technology
																											where
																											the
																											production
																											of
																											dimensionally
																											accurate
																											microstructures
																											and
																											patterns
																											is
																											of
																											great
																											significance.
																		
			
				
																						Aus
																											diesem
																											Grunde
																											und
																											auch
																											wegen
																											der
																											sehr
																											niedrigen
																											Dk
																											und
																											der
																											guten
																											Auflösung
																											ist
																											das
																											erfindungsgemäße
																											Polymersystem
																											bestens
																											geeignet
																											als
																											hochtemperaturbeständiger
																											Negativlack
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technik,
																											bei
																											denen
																											die
																											Erzeugung
																											maßgetreuer
																											Mikrostrukturen
																											bzw.
																											-muster
																											von
																											großer
																											Bedeutung
																											ist.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Due
																											to
																											their
																											superior
																											material
																											properties
																											(low
																											resistance,
																											low
																											contact
																											resistance,
																											good
																											adhesion
																											of
																											overlying
																											dielectrics,
																											self-passivation
																											capability
																											by
																											forming
																											a
																											native
																											oxide
																											film,
																											suitability
																											for
																											multilayer
																											metallization)
																											and
																											a
																											high-quality
																											deposition
																											technology
																											with
																											good
																											step
																											coverage,
																											aluminum
																											and
																											aluminum
																											alloy
																											layers
																											have
																											been
																											used
																											as
																											metallization
																											material
																											from
																											the
																											beginning
																											of
																											VLSI
																											technology.
																		
			
				
																						Aluminium-
																											bzw.
																											Aluminiumlegierungsschichten
																											werden
																											aufgrund
																											ihrer
																											überlegenen
																											Materialeigenschaften
																											(niedriger
																											Widerstand,
																											kleiner
																											Kontaktwiderstand,
																											gute
																											Adhäsion
																											von
																											darüberliegenden
																											Dielektrika,
																											Selbstpassivierungsfähgikeit
																											durch
																											Bildung
																											einer
																											natürlichen
																											Oxidschicht,
																											Eignung
																											für
																											Mehrlagenmetallisierung)
																											und
																											gut
																											funktionierender
																											Abscheideverfahren
																											mit
																											guter
																											Kantenbedeckung
																											seit
																											Beginn
																											der
																											VLSI-Technik
																											als
																											Leiterbahnmaterial
																											verwendet.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						SUMMARY
																											OF
																											THE
																											INVENTION
																											The
																											present
																											invention
																											solves
																											the
																											problem
																											of
																											the
																											manufacture
																											of
																											MNOS
																											transistors
																											with
																											very
																											short
																											channel
																											length
																											in
																											VLSI
																											technology
																											in
																											a
																											different,
																											simpler
																											and,
																											thus,
																											less
																											costly
																											manner
																											than
																											the
																											prior
																											art.
																		
			
				
																						Die
																											Erfindung
																											löst
																											das
																											Problem
																											der
																											Herstellung
																											von
																											MNOS-Transistoren
																											mit
																											sehr
																											kurzer
																											Kanallänge
																											in
																											der
																											VLSI-Technologie
																											auf
																											eine
																											andere,
																											einfachere
																											und
																											damit
																											weniger
																											aufwendigere
																											Weise
																											und
																											ist
																											durch
																											ein
																											Verfahren
																											der
																											eingangs
																											genannten
																											Art
																											mit
																											folgendem
																											Ablauf
																											der
																											Verfahrensschritte
																											gekennzeichnet:
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											method
																											serves
																											to
																											produce
																											NMOS,
																											PMOS,
																											and
																											in
																											particular
																											CMOS
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology
																											and
																											permits
																											a
																											very
																											high
																											packing
																											density
																											and
																											an
																											independent
																											additional
																											wiring
																											plane
																											of
																											very
																											low
																											resistance.
																		
			
				
																						Das
																											Verfahren
																											dient
																											der
																											Herstellung
																											von
																											NMOS-,
																											PMOS-
																											und
																											insbesondere
																											CMOS-Schaltungen
																											in
																											VLSI-Technologie
																											und
																											ermöglicht
																											neben
																											einer
																											unabhängigen
																											zusätzlichen
																											sehr
																											niederohmigen
																											Verdrahtungsebene
																											eine
																											sehr
																											hohe
																											Packungsdichte.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Given
																											tantalum-silicon
																											layers
																											employed
																											in
																											VLSI
																											technology
																											as
																											low-resistance
																											gate
																											material
																											or
																											as
																											interconnects,
																											the
																											specific
																											electrical
																											resistance
																											is
																											highly
																											influenced
																											by
																											the
																											composition.
																		
			
				
																						Auch
																											bei
																											Tantal-Silizium-Schichten,
																											die
																											in
																											der
																											VLSI-Technologie
																											unter
																											anderem
																											als
																											niederohmiges
																											Gatematerial
																											bzw.
																											als
																											Leiterbahnen
																											eingesetzt
																											werden,
																											wird
																											der
																											spezifische
																											elektrische
																											Widerstand
																											stark
																											von
																											der
																											Zusammensetzung
																											beeinflusst.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						For
																											this
																											reason,
																											and
																											also
																											because
																											of
																											the
																											very
																											low
																											Dk
																											and
																											the
																											good
																											solvent
																											dissolution,
																											the
																											polymer
																											system
																											of
																											the
																											invention
																											is
																											excellently
																											well
																											suited
																											for
																											use
																											as
																											a
																											high-temperature-resistant
																											negative
																											resist
																											in
																											the
																											manufacture
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology
																											wherein
																											the
																											formation
																											of
																											dimensionally
																											true
																											microstructures,
																											or,
																											alternatively,
																											patterns
																											is
																											of
																											great
																											significance.
																		
			
				
																						Aus
																											diesem
																											Grunde
																											und
																											auch
																											wegen
																											der
																											sehr
																											niedrigen
																											Dk
																											und
																											der
																											guten
																											Auflösung
																											ist
																											das
																											erfindungsgemäße
																											Polymersystem
																											bestens
																											geeignet
																											als
																											hochtemperaturbeständiger
																											Negativlack
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technik,
																											bei
																											denen
																											dis
																											Erzeugung
																											maßgetreuer
																											Mikrostrukturen
																											bzw.
																											-muster
																											von
																											großer
																											Bedeutung
																											ist.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						However,
																											advances
																											that
																											have
																											been
																											achieved
																											in
																											VLSI
																											technology
																											bring
																											real-time
																											multi-dimensional
																											filters
																											into
																											the
																											realm
																											of
																											practical
																											realization
																											in
																											comparison
																											to
																											earlier,
																											complicated
																											and
																											comparatively
																											slow
																											computers.
																		
			
				
																						Die
																											Fortschritte
																											aber,
																											die
																											in
																											der
																											sogenannten
																											VLSI-Technologie
																											(very
																											large
																											scale
																											integration)
																											erzielt
																											werden,
																											bringen
																											gegenüber
																											früheren
																											komplizierten
																											und
																											verhältnismäßig
																											langsamen
																											Rechnern
																											realzeitmehrdimensionale
																											Filter
																											in
																											den
																											Bereich
																											der
																											praktischen
																											Realisierung.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						For
																											such
																											reasons,
																											especially
																											the
																											far
																											shorter
																											exposure
																											time,
																											the
																											polymer
																											system
																											of
																											the
																											present
																											invention
																											is
																											optimally
																											further
																											suited
																											for
																											use
																											in
																											formulating
																											a
																											high-temperature-resistant
																											negative
																											lacquer
																											which
																											is
																											adapted
																											for
																											use
																											in
																											the
																											manufacture
																											of
																											integrated
																											semiconductor
																											circuits
																											in
																											VLSI
																											technology,
																											where
																											the
																											production
																											of
																											dimensionally
																											true
																											microstructures,
																											or,
																											alternatively,
																											of
																											micropatterns,
																											is
																											of
																											great
																											significance.
																		
			
				
																						Aus
																											diesem
																											Grunde
																											und
																											auch
																											wegen
																											der
																											sehr
																											viel
																											kürzeren
																											Belichtungszeit
																											ist
																											das
																											erfindungsgemäße
																											Polymersystem
																											bestens
																											geeignet
																											als
																											hochtemperaturbeständiger
																											Negativlack
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											integrierten
																											Halbleiterschaltungen
																											in
																											VLSI-Technik,
																											bei
																											denen
																											die
																											Erzeugung
																											maßgetreuer
																											Mikrostrukturen
																											bzw.
																											-muster
																											von
																											großer
																											Bedeutung
																											ist.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						As
																											with
																											neural
																											networks,
																											hardware
																											implementation
																											in
																											analog
																											circuit
																											technology
																											becomes
																											necessary
																											to
																											meet
																											real-time
																											requirements,
																											which,
																											for
																											larger
																											problems,
																											is
																											only
																											possible
																											by
																											means
																											of
																											VLSI
																											technology,
																											not
																											available
																											at
																											present.
																		
			
				
																						Erstens
																											wird
																											eine
																											Hardwareimplementierung
																											in
																											analoger
																											Schaltungstechnik
																											erforderlich,
																											um
																											Echtzeitanforderungen
																											zu
																											erfüllen,
																											was
																											für
																											größere
																											Probleme
																											nur
																											in
																											VLSI-Technik
																											möglich
																											ist
																											und
																											gegenwärtig
																											nicht
																											zur
																											Verfügung
																											steht.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						As
																											set
																											forth
																											in
																											the
																											article
																											by
																											Kuesters
																											et
																											al.,
																											Symposion
																											in
																											VLSI
																											Technology
																											1987,
																											Japan,
																											pages
																											93-94,
																											a
																											self-aligned
																											through
																											hole
																											can
																											be
																											manufactured
																											in
																											that
																											an
																											oxide/nitride/oxide
																											triple
																											layer
																											is
																											applied
																											surface-wide
																											after
																											the
																											oxide
																											encapsulation
																											and
																											is
																											in
																											turn
																											removed
																											over
																											the
																											conductive
																											region
																											using
																											a
																											phototechnique
																											in
																											a
																											plurality
																											of
																											etching
																											processes,
																											whereby
																											the
																											nitride
																											layer
																											serves
																											as
																											an
																											etching
																											stop.
																		
			
				
																						Wie
																											in
																											dem
																											Artikel
																											von
																											Küsters
																											et
																											al.,
																											Symposion
																											in
																											VLSI
																											Technology
																											1987,
																											Japan,
																											Seite
																											93
																											-
																											94
																											beschrieben,
																											kann
																											ein
																											selbstjustiertes
																											Kontaktloch
																											dadurch
																											hergestellt
																											werden,
																											daß
																											nach
																											der
																											Oxideinkapselung
																											eine
																											Oxid/Nitrid/Oxid-Dreifach-Schicht
																											ganzflächig
																											aufgebracht
																											und
																											unter
																											Einsatz
																											einer
																											Fototechnik
																											in
																											mehreren
																											Ätzprozessen,
																											wobei
																											die
																											Nitridschicht
																											als
																											Ätzstop
																											dient,
																											über
																											dem
																											leitenden
																											Gebiet
																											wieder
																											entfernt
																											wird.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Such
																											a
																											semiconductor
																											memory
																											device
																											having
																											a
																											storage
																											capacitor
																											with
																											a
																											ferroelectric
																											dielectric
																											(a
																											so-called
																											FRAM)
																											is
																											known,
																											for
																											instance,
																											from
																											The
																											1994
																											Symposium
																											on
																											VLSI
																											Technology
																											Digest
																											of
																											Technical
																											Papers,
																											pp.
																											55
																											ff.
																											by
																											R.
																											Moazzami
																											et
																											al,
																											and
																											from
																											The
																											1994
																											IEEE
																											International
																											Solid-State
																											Circuits
																											Conference,
																											pp.
																											268
																											ff.
																											by
																											Tatsumi
																											Sumi
																											et
																											al.
																											In
																											that
																											semiconductor
																											memory
																											device
																											the
																											storage
																											capacitors
																											with
																											the
																											ferroelectric
																											dielectric
																											are
																											constructed
																											in
																											planar
																											fashion
																											and
																											because
																											of
																											the
																											wiring
																											the
																											also
																											have
																											cell
																											surface
																											areas
																											of
																											considerable
																											size
																											per
																											bit,
																											which
																											is
																											considered
																											to
																											be
																											disadvantageous
																											in
																											view
																											of
																											the
																											desired
																											large
																											scale
																											of
																											integration.
																		
			
				
																						Eine
																											derartige
																											Halbleiter-Speichervorrichtung
																											mit
																											einem
																											Speicherkondensator
																											mit
																											einem
																											ferroelektrischen
																											Dielektrikum
																											(sogenannter
																											FRAM)
																											ist
																											beispielsweise
																											aus
																											R.
																											Moazzami
																											et
																											al,
																											Symposium
																											on
																											VLSI
																											Technology
																											Digest
																											of
																											Technical
																											Papers
																											1994,
																											Seiten
																											55
																											ff.,
																											und
																											Tatsumi
																											Sumi
																											et
																											al.,
																											IEEE
																											International
																											Solid-State
																											Circuits
																											Conference
																											1994,
																											Seiten
																											268
																											ff.
																											bekannt,
																											bei
																											welcher
																											Halbleiter-Speichervorrichtung
																											die
																											Speicherkondensatoren
																											mit
																											dem
																											ferroelektrischen
																											Dielektrikum
																											planar
																											ausgebildet
																											sind
																											und
																											auch
																											aufgrund
																											der
																											Verdrahtung
																											erhebliche
																											Zellflächen
																											pro
																											Bit
																											aufweisen,
																											was
																											angesichts
																											einer
																											erwünschten
																											hohen
																											Integrationsdichte
																											als
																											nachteilig
																											angesehen
																											wird.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						Such
																											a
																											semiconductor
																											memory
																											device
																											having
																											a
																											storage
																											capacitor
																											with
																											a
																											ferroelectric
																											dielectric
																											(a
																											so-called
																											FRAM)
																											is
																											known,
																											for
																											instance,
																											from
																											The
																											1994
																											Symposium
																											on
																											VLSI
																											Technology
																											Digest
																											of
																											Technical
																											Papers,
																											pp.
																											55
																											ff.
																											by
																											R.
																											Moazzami
																											et
																											al,
																											and
																											from
																											The
																											1994
																											IEEE
																											International
																											Solid-State
																											Circuits
																											Conference,
																											pp.
																											268
																											ff.
																											by
																											Tatsumi
																											Sumi
																											et
																											al.
																											In
																											that
																											semiconductor
																											memory
																											device
																											the
																											storage
																											capacitors
																											with
																											the
																											ferroelectric
																											dielectric
																											are
																											constructed
																											in
																											planar
																											fashion
																											and
																											additionally,
																											because
																											of
																											the
																											wiring,
																											have
																											cell
																											surface
																											areas
																											of
																											considerable
																											size
																											per
																											bit,
																											which
																											is
																											considered
																											to
																											be
																											disadvantageous
																											in
																											the
																											view
																											of
																											a
																											desired
																											large
																											scale
																											of
																											integration.
																		
			
				
																						Eine
																											derartige
																											Halbleiter-Speichervorrichtung
																											mit
																											einem
																											Speicherkondensator
																											mit
																											einem
																											ferroelektrischen
																											Dielektrikum
																											(sogenannter
																											FRAM)
																											ist
																											beispielsweise
																											aus
																											R.
																											Moazzami
																											et
																											al,
																											Symposium
																											on
																											VLSI
																											Technology
																											Digest
																											of
																											Technical
																											Papers
																											1994,
																											Seiten
																											55
																											ff.,
																											und
																											Tatsumi
																											Sumi
																											et
																											al.,
																											IEEE
																											International
																											Solid-State
																											Circuits
																											Conference
																											1994,
																											Seiten
																											268
																											ff.
																											bekannt,
																											bei
																											welcher
																											Halbleiter-Speichervorrichtung
																											die
																											Speicherkondensatoren
																											mit
																											dem
																											ferroelektrischen
																											Dielektrikum
																											planar
																											ausgebildet
																											sind
																											und
																											auch
																											aufgrund
																											der
																											Verdrahtung
																											erhebliche
																											Zellflächen
																											pro
																											Bit
																											aufweisen,
																											was
																											angesichts
																											einer
																											erwünschten
																											hohen
																											Integrationsdichte
																											als
																											nachteilig
																											angesehen
																											wird.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						This
																											known
																											process
																											is
																											limited
																											to
																											manufacture
																											of
																											extremely
																											thin
																											metal
																											structures
																											as
																											are
																											utilized,
																											for
																											example,
																											in
																											VLSI
																											technology.
																		
			
				
																						Das
																											bekannte
																											Verfahren
																											ist
																											auf
																											die
																											Herstellung
																											extrem
																											dünner
																											Metallstrukturen,
																											wie
																											sie
																											beispielsweise
																											in
																											der
																											VLSI-Technologie
																											Anwendung
																											finden,
																											beschränkt.
															 
				
		 EuroPat v2
			
																						The
																											process
																											in
																											accordance
																											with
																											the
																											invention
																											is
																											used
																											in
																											particular
																											for
																											making
																											via
																											holes
																											in
																											the
																											double-layer
																											insulation
																											between
																											first
																											and
																											second
																											metallurgy
																											of
																											integrated
																											circuit
																											structures
																											in
																											VLSI
																											technology.
																		
			
				
																						Das
																											Verfahren
																											gemäß
																											der
																											Erfindung
																											wird
																											insbesondere
																											angewendet
																											bei
																											der
																											Herstellung
																											von
																											Kontaktöffnungen
																											in
																											der
																											Doppellagenisolation
																											zwischen
																											erster
																											und
																											zweiter
																											Metallisierung
																											von
																											integrierten
																											Schaltkreisstrukturen
																											in
																											der
																											VLSI-Technologie.
															 
				
		 EuroPat v2